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Refractive index measurement of dielectric samples using highly focused radially polarized light(Invited Paper)

Chinese Optics Letters 2017年第3期15卷 12-15页

作者： Guadalupe López-Morales Victor-Manuel Rico-Botero Rafael Espinosa-Luna Qiwen Zhan gipys laboratory Centro de Investigaciones en Optica A. C. León Gto 37150 México Department of Electro-Optics and Photonics University of Dayton Dayton OH 45469 USA

In this Letter, a refractive index measurement of a dielectric sample using highly focused radially polarized light is reported. Through imaging analysis of the optical field at the pupil plane of a high numerical aperture （NA） objective lens reflected by the sample under study, the Brewster angle is found. Employing a high NA objective lens allows the measurement of multiple angles of incidence from 0° to 64° in a single shot. The refractive index of the sample is estimated using the measured Brewster angle. The experimental results are compared with the theoretical images computed with the Fresnel theory, and a good agreement is obtained.

关键词： high Refractive index measurement of dielectric samples using highly focused radially polarized light

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