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检索条件"机构=莱迪思半导体公司"
23720 条 记 录,以下是1-10 订阅
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存储器类型综述及DDR接口设计的实现(上)
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中国集成电路 2006年 第6期15卷 50-54页
作者: 莱迪思半导体公司 莱迪思半导体公司
存储器综述在过去数年里,电子市场,确切地说是存储器市场,经历了巨大的变化.在2000年电子工业低迷时期之前,电子系统设计师很少考虑他们下一个设计中元器件的成本,而更关注它们能够达到的最高性能.
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用复位发生器和电压监控器来避免故障
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电子产品世界 2008年 第5期15卷 119-121页
作者: 莱迪思半导体公司 莱迪思半导体公司
介绍用可编程电源管理器件,公司的POWR607对电压进行监控,产生复位信号的解决方案。POWR607是在系统可编程器件,配置存储在片上E2CMOS存储器中。
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存储器类型综述及DDR接口设计的实现(下)
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中国集成电路 2006年 第7期15卷 61-64页
作者: 莱迪思半导体公司 莱迪思半导体公司
用FPGA器件实现DDR存储器接口现在我们已经详细说明了一个典型的DDR接口的要求,我们能够转而在一个FPGA中实现这一DDR存储器接口了.
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USB Type-C解析
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今日电子 2016年 第1期 38-40页
作者: 莱迪思半导体公司 莱迪思半导体公司
本文将为您简要介绍一下USB Type-C。它有5项主要特性使USB Type-C成为灵活、可扩展的接口。主要特性1供电USB Type-C接口默认的5V供电向后兼容之前的USB接口。不仅如此,全新的USB Type-C接口包含4个引脚分别专门用于供电和接地。“USB... 详细信息
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使用低成本FPGA巧妙地扩展微处理器的连接
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世界电子元器件 2014年 第3期 33-34页
作者: 莱迪思半导体公司 莱迪思半导体公司
在现代电子系统设计中,微处理器是不可缺少的一个部件。然而,随着系统变得越来越复杂,拥有更广泛的功能和用户接口时,
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在奔跑中前进,绽放“芯”力量——访合肥中恒微半导体有限公司创始人、董事长袁磊
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变频器世界 2024年 第6期27卷 9-12页
作者: 袁磊 合肥中恒微半导体有限公司
忙。这是合肥中恒微半导体有限公司(以下简称中恒微)创始人、董事长袁磊的工作常态。早上八点,袁磊已经开启了一天的工作模式,他忙着抓技术,忙着抓管理,忙着出差,忙着参加会议,更多的是忙着考以及对公司发展的不断复盘。而在袁磊的带... 详细信息
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苏州新施诺:顺时聚势,成为全球领先的AMHS解决方案提供商——访苏州新施诺半导体设备有限公司总经理王宏玉
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物流技术与应用 2024年 第5期29卷 94-97页
作者: 江宏 王宏玉 不详 苏州新施诺半导体设备有限公司
苏州新施诺公司以“成为全球AMHS技术第一”为愿景,依托韩国Synus Tech公司与新松机器人公司在洁净物流系统领域的核心技术,通过国内外协同研发及供应链整合,不断升级AMHS系统解决方案,为客户提供稳定可靠高效的洁净物流系统设备与控制... 详细信息
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界面工程调控石墨烯/氮化镓紫外光电探测性能研究(特邀)
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激光与光电子学进展 2024年 第3期61卷 1-6页
作者: 高芳亮 陈坤 刘青 王幸福 杨纪锐 徐明俊 贺宇浩 石宇豪 许腾文 阳志超 李述体 华南师范大学半导体科学与技术学院 广东广州510631 东莞南方半导体科技有限公司 广东东莞523781
界面工程是提高光电探测器性能的有效方法之一。报道了基于界面工程调控的石墨烯(Gr,2D)/GaN(3D)范德瓦耳斯异质结紫外光电探测器。GaN吸收光子产生电子空穴对,并在内建电场作用下发生分离。其中,光生空穴利用隧穿效应向Gr一侧迁移,而... 详细信息
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碳化硅同质外延质量影响因素的分析与综述
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人工晶体学报 2024年 第2期53卷 210-217页
作者: 郭钰 刘春俊 张新河 沈鹏远 张博 娄艳芳 彭同华 杨建 北京天科合达半导体股份有限公司 北京102600 深圳市重投天科半导体有限公司 深圳518108
碳化硅(SiC)外延质量会直接影响器件的性能和使用寿命,在SiC器件应用中起到关键作用。SiC外延质量一方面受衬底质量的影响,例如衬底的堆垛层错(SF)会贯穿到外延层中形成条状层错(BSF),螺位错(TSD)会贯穿到外延层中形成坑点或Frank型层错... 详细信息
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1700 V精细沟槽栅IGBT器件设计
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半导体技术 2024年 第4期49卷 310-315,329页
作者: 郑婷婷 南京南瑞半导体有限公司 南京211100
为了改善绝缘栅双极型晶体管(IGBT)器件关断损耗和导通压降之间的折中关系,同时降低器件制造成本,基于1 700 V电压平台设计了一种采用精细沟槽栅结构的IGBT。采用TCAD软件进行仿真,研究衬底电阻率、衬底厚度、沟槽栅深度、沟槽栅宽度、... 详细信息
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