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作者

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13945 条 记 录,以下是31-40 订阅
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面向Transformer模型边缘端部署的常用激活函数高精度轻量级量化推理方法
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电子学报 2024年
作者: 杨赟辉 程虎 魏敬和 刘国柱 桑贤侦 中国电子科技集团公司第五十八研究所
基于Transformer的大语言模型(Large Language Models, LLM)和视觉Transformer(Vision Transformers,ViTs)分别在自然语言处理、机器视觉任务上实现了最为先进的性能.但是ViTs和LLM的常用激活函数GELU(Gaussian Error Linear Unit)、S... 详细信息
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组相联可自适应扩展的缓存架构及其性能分析
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西安电子科技大学学报 2024年
作者: 周昱 于宗光 高杨 邵健 罗庆 中国电子科技集团公司第五十八研究所
在现代处理器体系架构中,缓存是解决存储墙瓶颈的重要手段,但是缓存访问需求是随程序甚至是程序片段的切换而变化的,这导致传统的固定参数配置的缓存架构难以在长时间或在程序间依然保持高效性能。本文提出一种缓存组相联度的自适应... 详细信息
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GIS屏蔽罩松动状态特性仿真及试验分析
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高压电器 2024年 第6期60卷 19-26页
作者: 刘咏飞 黄强 赵科 杨景刚 高山 施景垒 鲁露 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院GIS设备运维检修技术实验室 南京211103 上海睿深电子科技有限公司 上海201108
机械类缺陷是GIS设备运行阶段的常见缺陷之一。针对机械缺陷导致GIS异常振动问题开展机理研究,能够有效排查现场设备故障隐患。文中首先通过有限元建模,对某126 kV三相共体式GIS运行时可能出现的屏蔽罩松动缺陷进行仿真,探究设备在缺陷... 详细信息
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CBGA、CCGA返工中的除锡工艺
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电子工艺技术 2024年 第2期45卷 44-47页
作者: 施维 苏州瑞骏电子科技有限公司 江苏苏州215101
CBGA和CCGA在板级组装时,常出现焊接不良等缺陷,导致电路无法继续使用。为降低成本、保证研制进度,需要进行植球植柱返工。除锡工艺作为植球植柱返工的第一个步骤,对后续工艺流程有较大影响。此外除锡工艺中焊料的残留量、镍层的熔蚀、... 详细信息
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输变电技术在智能电网中的应用
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通信电源技术 2024年 第12期41卷 67-69页
作者: 林玉梅 康尼电子科技有限公司 江苏南京210046
输变电技术可以实时采集电力输送数据,实现电力输送过程的自动控制,在智能电网安全可靠运行中发挥着重要作用。随着技术的发展,如何更好把控输变电技术在智能电网中的应用已成为人们关注的焦点。文章从智能电网和输变电技术的概念入手,... 详细信息
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基于奇异谱分析与决策树的GIS振动缺陷检测方法研究
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高压电器 2024年 第6期60卷 33-42页
作者: 杨景刚 赵科 腾云 李洪涛 李玉杰 肖焓艳 马径坦 张磊 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院GIS设备运维检修技术实验室 南京211103 上海睿深电子科技有限公司 上海201108
针对气体绝缘开关设备(gas insulated switchgear,GIS)在运行过程中出现的异常振动问题,文中提出了基于奇异谱分析与梯度提升决策树的GIS振动缺陷检测方法。首先通过加速度传感器采集GIS在不同状态下运行的振动信号,采用奇异谱分析的方... 详细信息
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基于融合专家知识DDPG的孤岛微电网频率调节策略
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中国电力 2024年 第2期57卷 194-201页
作者: 黄堃 付明 梁加本 东南大学电子科学与工程学院 江苏南京210096 国电南瑞科技股份有限公司 江苏南京211106
随着风、光等间歇性新能源接入到孤岛微电网,传统控制方法在进行频率调节时难以有效协同源-荷-储等多种资源以应对源-荷的随机性波动所导致的频率偏差问题。为此,提出了一种融合专家知识与深度确定性策略梯度(DDPG)的孤岛微电网频率调... 详细信息
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一种快速连续跳频的超宽带多功能频综模块设计
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现代电子技术 2024年 第18期47卷 65-69页
作者: 胡劲涵 陈文涛 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214072
基于快速连续跳频和超宽带射频收发电路的应用,设计了一种快速连续跳频的超宽带多功能频综模块,可实现0.1~9.8 GHz工作频段的快速连续或非连续跳频功能,以及FDD、TDD收发电路中上下变频的处理。采用“乒乓”锁相环(PLL)作为整体架构,结... 详细信息
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基于FPGA的FLASH存储器三温功能测试系统设计
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现代电子技术 2024年 第4期47卷 39-42页
作者: 侯晓宇 郭贺 常艳昭 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214035
由于大容量FLASH存储器全地址功能测试时间较长,在自动化测试设备(ATE)上进行高低温测试时,长时间使用热流罩会导致测试设备运行异常。为把存储器测试过程中耗时最长的全地址功能测试部分从ATE机台上分离出来,设计一个基于FPGA的驱动板... 详细信息
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基于ATE的高速DAC射频参数SFDR测试技术优化
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现代电子技术 2024年 第2期47卷 16-20页
作者: 沈锺杰 张一圣 孔锐 王建超 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214035
利用集成电路自动测试设备(ATE)测试高速DAC射频参数时,由于ATE测试板PCB走线较长、损耗较大以及机台提供的信号抖动比实装大等原因,导致ATE上高速DAC射频参数测试指标低于实装测试值。为此,文中介绍DAC电路的工作原理和测试方法;其次... 详细信息
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