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传统化学分析法在分析有害元素方面存在破坏首饰、周期长、操作繁琐、试剂消耗量大和污染环境等问题,而现在有一种快速的无损检测方法即X射线荧光光谱法。本文从黄金首饰中引入有害元素的原因出发,通过采用ED-XRF(能量色散型X射线荧光光谱仪)分析黄金首饰中的Pb、Hg、Cd、Cr、As这5种典型的有害元素的荧光谱图,,研究测试过程中的基体干扰因素和特征峰识别方法,探讨采用ED-XRF对有害元素进行快速、准确与可靠的定性分析对策。