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Study of the 6.x nm short wavelength radiation spectra of laser-produced erbium plasmas for BEUV lithography
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Plasma Science and Technology 2023年 第6期25卷 41-51页
作者: 吴涛 王倩 陈柳安 陆培祥 Hubei Key Laboratory of Optical Information and Pattern Recognition School of Optical Information and Energy EngineeringWuhan Institute of TechnologyWuhan 430205People's Republic of China Guangdong Intelligent Robotics Institute Dongguan 523808People's Republic of China
Beyond extreme ultraviolet(BEUV)radiation with a wavelength of 6.x nm for lithography is responsible for reducing the source wavelength to enable continued miniaturization of semiconductor *** this work,the Required B... 详细信息
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