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A Method for Measuring thermal radiation properties of Semi-Transparent Films

Journal of thermal Science 1992年第1期1卷 58-63页

作者： Y.P.Zhang X.S.Ge X.G.Liang Department of Engineering Thermophysics University of Science and Technology of ChinaHefeiChina

This paper presents a method(F method)for determining the optical constants and the thicknesses of semi- transparent thin *** has the following distinctive features:high precision;rapid determination of the measured quantities;wide range of convergence of solutions;capable of judging whether or not the results are *** order to meet the needs of application and engineering design,a family of curves designated Fig.n-F was *** it n,k,d of the films can be conveniently and accurately *** the optical constants and the thicknesses of the films determined by the F method,all important thermal radiation properties of the semi-transparent films needed in application can be obtained.

关键词： thermal radiation properties F-method n-F curves semi-transparent films.

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