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Diagnosis of soft faults in analog integrated circuits based on fractional correlation

Journal of Semiconductors 2012年第8期33卷 117-122页

作者：邓勇师奕兵张伟 School of Automation Engineering University of Electronic Science and Technology of China School of Electronics and Information Engineering Southwest Petroleum University

Aiming at the problem of diagnosing soft faults in analog integrated circuits, an approach based on fractional correlation is proposed. First, the Volterra series of the circuit under test （CUT） decomposed by the fractional wavelet packet are used to calculate the fractional correlation functions. Then, the calculated fractional correlation functions are used to form the fault signatures of the CUT. By comparing the fault signatures, the different soft faulty conditions of the CUT are identified and the faults are located. Simulations of benchmark circuits illustrate the proposed method and validate its effectiveness in diagnosing soft faults in analog integrated circuits.

关键词： analog circuits soft faults fault diagnosis Volterra series fractional correlation

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