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An Imperfect-debugging Fault-detection Dependent-parameter Software

International Journal of Automation and computing 2007年第4期4卷 325-328页

作者： Hoang Pham Department of Industrial and Systems Engineering Rutgers UniversityNew JerseyNJ 08855-8018USA

Software reliability growth models （SRGMs） incorporating the imperfect debugging and learning phenomenon of developers have recently been developed by many researchers to estimate software reliability measures such as the number of remaining faults and software reliability. However, the model parameters of both the fault content rate function and fault detection rate function of the SRGMs are often considered to be independent from each other. In practice, this assumption may not be the case and it is worth to investigate what if it is not. In this paper, we aim for such study and propose a software reliability model connecting the imperfect debugging and learning phenomenon by a common parameter among the two functions, called the imperfect-debugging fault-detection dependent-parameter model. Software testing data collected from real applications are utilized to illustrate the proposed model for both the descriptive and predictive power by determining the non-zero initial debugging process.

关键词： Non-homogeneous Poisson process software reliability growth least squares estimate predictive power predictive-ratio risk.

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