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Evolution of microstructure and texture of cold-drawn polycrystalline ag with low stacking fault energy

Science China(Technological Sciences) 2015年第7期58卷 1146-1153页

作者： MA XiaoGuang CHEN Jian CHEN Zheng YAN Wen State Key Laboratory of Solidification Processing School of Materials Science and Engineering Northwestern Polytechnical University School of Materials Science and Chemical Engineering Xi'an Technological University

The evolution of microstructure and texture for drawn polycrystalline ag was investigated by transmission electron microscopy and electron backscattering *** results show that there are deformation twins and some un-tangled discrete dislocations at low *** the strain is increased to 0.58,a lot of high density dislocation walls and microbands come into *** the same time,some twins lose the twinning relationship of 60°.At a strain of 0.94,both dislocation boundaries and twin boundaries will rotate to the axis direction of wires and the shear bands start to *** the strain is higher than 1.96,most of the boundaries are parallel to the drawn *** analysis indicates that with the strain increasing,the volume fraction of complex texture component decreases,butandtexture components ***,the variation in the volume fraction of each texture component as strains is not evident when the strains are higher than *** polycrystalline ag with low stacking fault energy,complex texture components are easily formed.

关键词： polycrystalline ag cold-drawn deformation microstructure deformation twinning stacking fault energy

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