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Influence of a two-dimensional electron gas on current-voltage characteristics of Al_(0.3)Ga_(0.7) N/GaN high electron mobility transistors

引用

Chinese Physics B 2012年第6期21卷 443-447页

作者：冀东刘冰吕燕伍邹杪范博龄 School of Science Beijing Jiaotong University School of Electronic and Information Engineering Beijing Jiaotong University

The J-V characteristics of AltGa1 tN/GaN high electron mobility transistors（HEMTs） are investigated and simulated using the self-consistent solution of the Schro dinger and Poisson equations for a two-dimensional electron gas（2DEG） in a triangular potential well with the Al mole fraction t = 0.3 as an example.Using a simple analytical model,the electronic drift velocity in a 2DEG channel is obtained.It is found that the current density through the 2DEG channel is on the order of 10^13 A/m^2 within a very narrow region（about 5 nm）.For a current density of 7 × 10^13 A/m62 passing through the 2DEG channel with a 2DEG density of above 1.2 × 10^17 m^-2 under a drain voltage Vds = 1.5 V at room temperature,the barrier thickness Lb should be more than 10 nm and the gate bias must be higher than 2 V.

关键词： two-dimensional electron gas high electron mobility transistor heterointerface nitridesemiconductor

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