检索结果-南通市图书馆

Measurement of the Waveguide near-field Optical spot

Semiconductor Photonics and Technology 2003年第2期9卷 123-127页

作者： XIA You-xin,PEI Xian-deng,HUANG Hao,XIE Chang-sheng,WANG Hai-wei(National Storage System Lab.,Huazhong University of Sci.& Technol.,Wuhan 430074,CHN) Huazhong University of Sci. & Technol. National Storage System Lab. Wuhan 430074

The characteristic of near-field spots is *** size of the near field and the heat response time of the hybrid record medium to overcome super paramagnetic effect are calculated based on the heat transfer theory. A novel measuring method for the diameter of near-field recording spot is also presented. Since the grain of the recording media is tiny enough,near-field optical lithography can be accomplished with the aid of atomic force microscope (AFM).The diameter of near-field recording spot can be obtained by specifically designed *** the relationship between the near-field recording spot diameter and the probe size of near-field recording system, the near field recording distance coupling between head and disc can be got.

关键词： evanescent energy AFM near―field recording spot near―field opticallithography

来源：

维普期刊数据库

同方期刊数据库评论

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

欢迎您,

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

欢迎您,

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：