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Nanocrystal-semiconductor interface： atomic-resolution cross-sectional transmission electron microscope study of lead sulfide nanocrystal quantum dots on crystalline silicon
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Nano Research 2014年 第2期7卷 219-227页
作者： Zachary Lingley Krishnamurthy Mahalingam Siyuan Lus Gail J. Brown Anupam Madhukar Mork Family Department of Chemical Engineering and Materials Science University of Southern California Los Angeles California 90089 USA Air Force Research Laboratory Materials and Manufacturing Directorate Wright-Patterson Air Force Base Ohio 45433-7707 USA Department of Physics and Astronomy University of Southern California Los Angeles California 90089 USA
We report on a cross-sectional high resolution transmission electron microscope study of lead sulfide nanocrystal quantum dots （NCQDs） dispersed on electron-transparent silicon nanopillars that enables nearly atomic... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 评论
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