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geometric evolution laws for Thin Crystalline Films: Modeling and Numerics

Communications in Computational Physics 2009年第8期6卷 433-482页

作者： Bo Li John Lowengrub Andreas Ratz Axel Voigt Department of Mathematics and Center for Theoretical Biological Physics University of California at San DiegoLa JollaCA 92093-0112USA Department of Mathematics University of California at IrvineIrvineCA 92697-3875USA Institut fur Wissenschaftliches Rechnen Technische Universitat Dresden01062 DresdenGermany Department of Physics Technical University of Helsinki02015 EspooFinland.

geometrical evolution laws are widely used in continuum modeling of surface and interface motion in materials *** this article,we first give a brief review of various kinds of geometrical evolution laws and their variational derivations,with an emphasis on strong *** then survey some of the finite element based numerical methods for simulating the motion of interfaces focusing on the field of thin film *** discuss the finite element method applied to front-tracking,phase-field and level-set *** describe various applications of these geometrical evolution laws to materials science problems,and in particular,the growth and morphologies of thin crystalline films.

关键词： Interface problems geometric evolution laws anisotropy kinetics front tracking level-set phase-field chemical vapor deposition molecular beam epitaxy liquid phase epitaxy electrodeposition

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