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Adaptive semi-empirical model for non-contact atomic force microscopy

Chinese Physics B 2022年第8期31卷 682-687页

作者： Xi Chen Jun-Kai Tong Zhi-Xin Hu Center for Joint Quantum Studies and Department of Physics Institute of ScienceTianjin UniversityTianjin 300350China State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments Tianjin UniversityTianjin 300072China

Non-contact atomic force microscope is a powerful tool to investigate the surface topography with atomic *** we propose a new approach to estimate the interaction between its tips and samples,which combines a semi-empirical model with density functional theory(DFT)*** generated frequency shift images are consistent with the experiment for mapping organic molecules using CuCO,Cu,CuCl,and CuO_(x)*** approach achieves accuracy close to DFT calculation with much lower computational cost.

关键词： semi-empirical model atomic force microscopy density functional theory functionalized tips

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