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检索条件"主题词=full Coulomb interaction"
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Remote charge scattering:a full coulomb interaction approach and its impact on silicon nMOS FinFETs with HfO2 gate dielectric
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Science China(Information Sciences) 2014年 第2期57卷 207-215页
作者： WEI KangLiang EGLEY James LIU XiaoYan DU Gang Institute of Microelectronics Peking University GLOBALFOUNDRIES
Remote charge scattering(RCS)has become a serious obstacle inhabiting the performance of ultrathin gate oxide *** this paper,we evaluate the impact of RCS by treating the real-space full coulomb interaction between re... 详细信息
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