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Unveiling localized electronic properties of res2 thin layers at nanoscale using Kelvin force probe microscopy combined with tip-enhanced Raman spectroscopy

引用

Chinese Physics B 2023年第11期32卷 598-603页

作者：罗宇苏伟涛张娟娟陈飞武可曾宜杰卢红伟 School of Sciences Hangzhou Dianzi UniversityHangzhou 310018China Hunan Petrochemical Vocational Technology College Yueyang 414011China College of Materials and Environmental Engineering Hangzhou Dianzi UniversityHangzhou 310018China

Electronic properties of two-dimensional(2D) materials can be strongly modulated by localized strain. The typical spatial resolution of conventional Kelvin probe force microscopy(KPFM) is usually limited in a few hundreds of nanometers, and it is difficult to characterize localized electronic properties of 2D materials at nanoscales. Herein, tip-enhanced Raman spectroscopy(TERS) is proposed to combine with KPFM to break this restriction. TERS scan is conducted on res2bubbles deposited on a rough Au thin film to obtain strain distribution by using the Raman peak shift. The localized contact potential difference(CPD) is inversely calculated with a higher spatial resolution by using strain measured by TERS and CPD-strain working curve obtained using conventional KPFM and atomic force microscopy. This method enhances the spatial resolution of CPD measurements and can be potentially used to characterize localized electronic properties of 2D materials.

关键词： few layer res2 tip enhanced Raman spectroscopy local strain Kelvin probe force microscopy

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