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Stable dielectric response in lead-free relaxor K_(0.5)Na_(0.5)NbO_(3)-SrTiO_(3) thin films

Journal of Advanced Dielectrics 2014年第2期4卷 41-45页

作者： A.Eršte A.Kupec B.Kmet B.Malič V.Bobnar Condensed Matter Physics Department Jozef Stefan Institute Jamova cesta 39SI-1000 LjubljanaSlovenia Electronic Ceramics Department Jozef Stefan Institute Jamova cesta 39SI-1000 LjubljanaSlovenia Jozef Stefan International Postgraduate School Jamova cesta 39 SI-1000 LjubljanaSlovenia

K_(0.5)Na_(0.5)NbO_(3)-SrTiO_(3)(KNN-STO)thin films of different compositions were prepared by the chemical solution deposition *** structural investigations confirmed the formation of perovskite solid solution in all developed films,dieletric experiments revealed a relaxor broad dispersive maximum in the sample with 15 mol%of STO,exhibiting for a thin film high ε′~330 at~*** history-dependent effects of this relaxor sample were compared to those of KNN STO ceramics and,furthermore,shown to be much weaker than in widely used lead-based ferroelectric and relaxor(Pb,L a)(Zr,Ti)O_(3) ceramics:While fatigue endurance results revealed a slight drop in polarization after 3 × 10^(5) switching cycles,the results of aging of the dielectric constant revealed no notable decrease in its values after 10^(6)s.

关键词： Lead-free ceramic thin films relaxor ferroelectrics electrical fatigue and aging

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