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机构

  • 1 篇 北京大学

作者

  • 1 篇 谭长华
  • 1 篇 许铭真
  • 1 篇 张贺秋

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=direct tunnel current"
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An Empirical direct tunneling current Expression for Ultra-Thin Oxide nMOSFETs
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Journal of Semiconductors 2004年 第5期25卷 516-519页
作者： 张贺秋 许铭真 谭长华 北京大学微电子学研究所 北京100871
An empirical expression for the direct tunneling (DT) current is *** expression can be used to calculate the DT current for nMOSFETs with ultra thin oxide when the oxide thickness is considered as an adjustable *** r... 详细信息
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