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Bi-Spectrum Scattering Model for dielectric randomly rough surface

Tsinghua Science and Technology 2003年第5期8卷 617-623页

作者：刘宁李宗谦 State Key Laboratory on Microwave and Digital Communications

The bistatic scattering model is offen used for remote microwave sensing. The bi-spectrum model (BSM) for conducting surfaces was used to develop a scattering model for dielectric randomly rough surfaces to estimate their bistatic scattering coefficients. The model for dielectric rough surfaces differs from the BSM for a conducting surface by including Fresnell reflection and transmission from dielectric rough surfaces. The bistatic scattering coefficients were defined to satisfy the reciprocal theorem. Values calculated using the BSM for dielectric randomly rough surfaces compare well with those of the integral equation model (IEM) and with experimental data, showing that the BSM accuracy is acceptable and its range of validity is similar to that of IEM while the BSM expression is simpler than that of IEM.

关键词： dielectric randomly rough surface spectral domain bi-spectrum method bistatic scattering coefficients bi-spectrum scattering model microwave remote sensing

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