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Fault diagnosis System Based on Self-Adaption Test for Combined Logic Circuits

Fault Diagnosis System Based on Self-Adaption Test for Combi...

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2011 International Conference on Management Science and Intelligent Control(ICMSIC 2011)

作者： GAO Zehan Textile and Apparel College Guangzhou University Guangzhou China WANG Haobo Department of Electronic Engineering Tsinghua University Beijing China HUANG Lan School of Information and Electrical Engineering Guangzhou University Guangzhou China

In this paper, we propose a circuit diagnosis system that tests the sample circuit to get responses and produces test vectors according to the responses and the corresponding excitation signals, then determines the state of the circuit. The following components are included in the system: test vector （excitation signal） production component, eigenvector analysis （response analysis） component, self-adaptation test set （test sequence） production component. Test vector set production is the critical part in this system. When test set is produced, test the circuit with the set, the state of the circuit, from which the fault part in the circuit can be inferred, will be indicated by the circuit’s responses.

关键词： self-adaption combined logic circuits fault diagnosis test sequence excitation and response diagnosis tree

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