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作者

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The charging stability of different silica glasses studied by measuring the secondary electron emission yield
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Chinese Physics B 2011年 第3期20卷 473-480页
作者: 赵谡玲 Bertrand Poumellec Key Laboratory of Luminescence and Optical Information Beijing Jiaotong University Ministry of Education ICMMO/LPCES UMR CNRS-UPS 8182Universit'e de Paris Sud91405 Orsay CedexFrance
This paper reports that the charging properties of lead silica, Suprasil silica and Infrasil silica are investigated by measuring the secondary electron emission (SEE) yield. At a primary electron beam energy of 25 ... 详细信息
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