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Temperature-driven spin reorientation transition of magnetron sputtered nickel thin film

Chinese Physics B 2008年第9期17卷 3495-3498页

作者：宋小会张殿琳 Beijing National Laboratory for Condensed Matter Physics Institute of PhysicsChinese Academy of Sciences

The temperature-driven spin reorientation transition of magnetron sputtered Ni/Si （111） systems has been studied. The relationship between ac initial susceptibility and temperature of nickel films with different thicknesses shows that the magnetization orientation changes from in-plane to out-of-plane with the increase of temperature. The temperature dependence of mugnetoelastic, magneto-crystalline, and magnetostatic anisotropies determines the direction of the reorientation transition. The temperature-driven spin reorientation transition is supported by Hall coefficient measurements which show that its temperature dependence is similar to that of susceptibility.

关键词： magnetic anisotropy spin reorientation transition ac initial susceptibility

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