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Response compaction for system-on-a-chip based on advanced convolutional codes

Science in China(Series F) 2006年第2期49卷 262-272页

作者： HAN Yinhe LI Huawei LI xiaowei ANSHUMAN Chandra Institute of Computing Technology Chinese Academy of Sciences Beijing 100080 China Graduate University of Chinese Academy of Sciences-Beijing 100039 China Synopsys Inc. 700 E.Middlefield Rd.Mountain viewCA94043USA

This paper addresses the problem of test response compaction. In order to maximize compaction ratio, a single-output compactor based on a （n, n-1, m, 3） convolutional code is presented. When the proposed theorems are satisfied, the compactor can avoid two and any odd erroneous bits cancellations, and handle one unknown bit （x bit）. When the x bits in response are clustered, multiple-weight check matrix design algorithm can be used to reduce the effect of massive x bits. Some extended experimental results show that the proposed encoder has an acceptable-level x tolerant capacity and low error cancellations probability.

关键词： SOC test response compaction convolutional code aliasing x bits masking.

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