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x光成像中环形编码孔径显微镜实验研究

大连理工大学学报 2000年第A1期40卷 104-108页

作者：胡家升程丽红谢存李骏大连理工大学电子与信息工程学院辽宁大连116024 大连理工大学物理系辽宁大连116024

在简述 x光成像技术发展的基础上 ,特别讨论了多针孔和环形编码等孔径编码成像技术的原理和发展 ,论述了 x光成像中孔径编码成像的基本原理和成像过程。

关键词： x射线显微术图像处理孔径编码成像环表编码孔径显微镜 x光成像

一种用于x光成像的CMOS模拟△-∑调制器

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微电子学 2005年第1期35卷 89-92页

作者：李本靖李福乐李冬梅王志华清华大学电子工程系北京100084

设计了一个用于32通道x光成像系统前端的模拟△-∑调制器。基于一种通用的2阶1比特结构,引入了对调制器环路状态进行复位的操作来避免在通道数据间发生相干性。Hspice和 Matlab下的仿真表明,在0.54μm标准CMOS工艺下,采用30 MHz的采样... 详细信息

设计了一个用于32通道x光成像系统前端的模拟△-∑调制器。基于一种通用的2阶1比特结构,引入了对调制器环路状态进行复位的操作来避免在通道数据间发生相干性。Hspice和 Matlab下的仿真表明,在0.54μm标准CMOS工艺下,采用30 MHz的采样时钟,该调制器可以保证对每个通道14位以上的转换精度。该调制器采用5 V电源,功耗小于40 mW,面积为1.13 mm× 0.92 mm,可作为专用硬核使用。

关键词： Δ-∑调制器 x光成像开关电容 A/D转换器

基于x光成像和纹理分析的轮胎带束层缺陷检测

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基于X光成像和纹理分析的轮胎带束层缺陷检测

作者：郑修楠济南大学

学位级别：硕士

目前,国内汽车的持有量连年增长,基本上家家户户都能拥有一辆汽车,因此人们希望汽车的安全系数越来越高。而轮胎是汽车的一个重要组成部分,轮胎的质量直接影响着汽车的安全行驶。因此轮胎在出厂前要进行严格的质检,但目前国内各大轮胎... 详细信息

目前,国内汽车的持有量连年增长,基本上家家户户都能拥有一辆汽车,因此人们希望汽车的安全系数越来越高。而轮胎是汽车的一个重要组成部分,轮胎的质量直接影响着汽车的安全行驶。因此轮胎在出厂前要进行严格的质检,但目前国内各大轮胎厂大都采用的是国外的轮胎检测设备,而这些设备的进口价格十分昂贵,除此之外国内外对于缺陷的判级标准也不一样。因此,国内非常迫切的需要研发出一款自动检测轮胎缺陷的系统。基于这种情况课题组与青岛某公司合作设计开发了一套轮胎缺陷自动检测系统,本文重点介绍了带束层中存在的缺陷检测算法的设计和实现。主要研究内容:(1)分析了轮胎厂中使用的x光轮胎检测设备的结构和工作原理,重点分析了轮胎的x光成像原理及过程。(2)结合带束层纹理的特征,对常用的纹理缺陷识别算法进行了的分析。(3)设计算法将带束层从轮胎中分割出来。然后针对带束层中存在的6种缺陷类型,根据不同缺陷的纹理特征分别设计了相应的算法进行检测。设计了零度带束层缺失缺陷检测算法。采用形态学滤波的方法,自定义了形态学核函数使得滤波后的带束层能够保留零度带束层方向的帘线,而滤除其他方向的帘线从而检测出带束层中是否存在零度带束层。设计了第二带束层与零度带束层偏移缺陷检测算法。在分割带束层时可以得到第二带束层的边界,在检测零度带束层缺失缺陷时可以得到零度带束层边界,通过比较两个边界的差值来判断是否存在第二带束层与零度带束层偏移。设计了带束层搭接与开裂缺陷的检测算法。对带束层图像进行旋转投影,遍历所有旋转角度的投影图,通过检测投影图中存在的异常峰或者异常谷来判断是否存在带束层搭接或者带束层开裂缺陷。设计了带束层杂质缺陷检测算法。首先根据带束层纹理分布规律自定义了一个局部二值化算法,然后在二值化后的图像上做一个面积滤波,从而保留了面积较大的杂质,而滤除其他的规律排列的纹理。设计了带束层打折的算法。计算小窗口内带束层的直方图信息,通过比较相邻窗口带束层对应的直方图的相似度来判断是否存在带束层打折异常。(4)将算法集成到课题组设计的轮胎自动缺陷检测系统中,本文所有的缺陷检测算法都应用Visual Studio2015软件开发环境。

关键词：轮胎带束层 x光成像缺陷检测纹理分析改进极值滤波改进局部二值化

新型波带板用于激光等离子体x光成像的理论研究

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新型波带板用于激光等离子体X光成像的理论研究

作者：魏来中国科学技术大学

学位级别：硕士

本文致力于软x光单级聚焦波带片与软x光单级衍射光栅相关技术研究，具体工作包括两个方面：1.新型二值化Gabor波带片的设计与计算机模拟;2.新型的软x光谱学光子筛衍射模式的模拟和实验表征。 x光微聚焦Fresnel波带片和软x光衍射光... 详细信息

本文致力于软x光单级聚焦波带片与软x光单级衍射光栅相关技术研究，具体工作包括两个方面：1.新型二值化Gabor波带片的设计与计算机模拟;2.新型的软x光谱学光子筛衍射模式的模拟和实验表征。 x光微聚焦Fresnel波带片和软x光衍射光谱仪在惯性约束聚变（ICF）研究，激光等离子体诊断过程之中均有非常重要的应用。前者在ICF研究中的靶球背光照相方面以及应用超短超强激光与靶材料相互作用产生的微焦点超短脉冲K.射线源成像领域有潜在的应用，后者在ICF和强场物理研究中的x光光谱诊断方面有广泛的应用。 Fresnel波带片可以看做一种多级聚焦x光透镜，它具有多级衍射的特征。在成像中一般使用一级衍射，然而高级衍射将会迭加在一级像上，使成像质量下降。而软x光衍射光栅同波带片一样，也表现出多级衍射特征，大多数的软x光衍射光谱仪都是使用一级衍射谱，但是高级衍射会迭加在一级衍射谱上，同样给解谱带来误差。回顾光学标量衍射理论的基础上，提出了x光单级聚焦波带片的一种新的设计思路。新波带片由一系列准随机分布的环带扇形基元构成。在每一个环带内，这些基元在径向呈余弦分布，在纬度方向随机分布，这样的多个环带构成一个二值化Gabor波带片。并用MATLAB编写程序对它的衍射模式进行了模拟。模拟结果表明：这种二值化Gabor波带片能够完全抑制高级衍射，光轴上只存在1级衍射峰。说明它可以有效地消除高级衍射对成像的影响，提高成像质量。最后对它的制作做了可行性论证。而后对中国工程物理研究院激光聚变中心曹磊峰课题组新设计的优化型软x光谱学光子筛的设计原理和方法进行了阐述，编写了专门的数值模拟程序对其衍射模式进行了计算。在此基础上研究了不同点阵排布，不同形状孔径的衍射模式，讨论了谱学光子筛衍射模式的优点和制作可行性。理论研究和计算机模拟结果表明：利用准随机圆孔阵列和正弦分布正方孔阵列谱学光子筛可以有效地抑制传统x光衍射光栅谱仪中不能回避的高级衍射。设计、制作了可见光波段的谱学光子筛，开展了这种新型元器件衍射特征的表征实验。实验结果表明：这种光子筛可以有效抑制第三级及更高级的衍射，二级缺级，只存在0级和. 1级衍射。充分说明了设计的正确性，证明了它的衍射模式比传统黑白光栅要优越的多。

关键词： x光成像 Gabor波带片二值化光子筛光谱学透射光栅

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x光成像新技术之一 x光成像的数字化技术

医疗装备 1992年第2期5卷 15-18页

作者：陈龙中国科学院自动化研究所

x 射线图像是现代医学图像诊断的重要领域,近年来在 x 光成像的数字化方面取得进展,相继推出了数字摄影术(DR)、计算机摄影术(CR)、数字减影血管造影系统(DSA)、数字心脏成像系统(DCI)和数字点片成像系统(DSI),它们改变了 x 光屏幕/胶... 详细信息

x 射线图像是现代医学图像诊断的重要领域,近年来在 x 光成像的数字化方面取得进展,相继推出了数字摄影术(DR)、计算机摄影术(CR)、数字减影血管造影系统(DSA)、数字心脏成像系统(DCI)和数字点片成像系统(DSI),它们改变了 x 光屏幕/胶片成像的传统面貌,本文对此进行了简要的论述。

关键词： x光成像数字化技术

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油、气、水三相流x光成像系统

石油石化节能 1998年第10期 6-7页

作者： A．R．W．Hall B．M．Hawker 杨菲蔡辉刘庆峰大庆油田设计院

准确地预知油、气、水三相流的流动型态是进行多相流水力、热力计算和多相流量计开发与性能评价的重要前提。但由于原油的透光性差以及高压条件下无法在实验管路上加装透明管段等原因，使采用传统的观察法来确定多相流流型已不再成为可... 详细信息

准确地预知油、气、水三相流的流动型态是进行多相流水力、热力计算和多相流量计开发与性能评价的重要前提。但由于原油的透光性差以及高压条件下无法在实验管路上加装透明管段等原因，使采用传统的观察法来确定多相流流型已不再成为可能。本文介绍了一种采用x光成像技术在不可视条件下确定流型的方法，利用这种技术探测管路中多相流的流型取得了较好的效果。

关键词：三相流流动型态 x光成像

少角度x光成像三维重构算法在GIS检测中的应用

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少角度X光成像三维重构算法在GIS检测中的应用

上海光机所研制超薄Ce∶YAG闪烁晶体用于高分辨x光成像

2020年全国智能用电工程建设经验交流会

作者：王志川国网四川省电力公司

本文采用x光成像技术对GIS设备进行检测,利用少角度x光成像三维重构算法对检测得到的图像进行处理,确定GIS设备的具体问题,使电力设备的带电检测可视化,并且快速高效。

关键词： GIS x光成像三维重构

来源： cnki会议评论

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稀土 2014年第4期35卷 46-46页

近期,中国科学院上海光学精密机械研究所中国科学院强激光材料重点实验室利用提拉法生长出的高品质Ce∶YAG闪烁晶体开展了高分辨率x射线成像系统核心器件——闪烁体研制工作,成功制备了尺寸为φ30 mm,厚度为30μm^45μm的高品质闪烁晶... 详细信息

近期,中国科学院上海光学精密机械研究所中国科学院强激光材料重点实验室利用提拉法生长出的高品质Ce∶YAG闪烁晶体开展了高分辨率x射线成像系统核心器件——闪烁体研制工作,成功制备了尺寸为φ30 mm,厚度为30μm^45μm的高品质闪烁晶体元件,并和中科院上海应用物理研究所合作,研制基于超薄Ce∶YAG闪烁晶体的高分辨x光探测器，实现x光辐照条件下高分辨成像。在同等实验条件下，与Crytur公司同类晶体对比，上海光机所研制的Ce：YAG闪烁晶体图像边沿锐度较高，图像对比度好，成像分辨率高，图像质量更好。

关键词：上海光学精密机械研究所 Ce YAG 闪烁晶体高分辨率 x光成像超薄光机中国科学院

上海光机所研制超薄Ce∶YAG闪烁晶体用于高分辨x光成像

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人工晶体学报 2014年第6期43卷 1554-1554页

近期,中国科学院上海光学精密机械研究所中科院强激光材料重点实验室利用提拉法生长出的高品质Ce∶YAG闪烁晶体开展了高分辨率x射线成像系统核心器件——闪烁体研制工作,成功制备了尺寸为30mm,厚度为30~45μm的高品质闪烁晶体元件,并... 详细信息

近期,中国科学院上海光学精密机械研究所中科院强激光材料重点实验室利用提拉法生长出的高品质Ce∶YAG闪烁晶体开展了高分辨率x射线成像系统核心器件——闪烁体研制工作,成功制备了尺寸为30mm,厚度为30~45μm的高品质闪烁晶体元件,并和中科院上海应用物理研究所合作,研制基于超薄Ce∶YAG闪烁晶体的高分辨x光探测器,实现x光辐照条件下高分辨成像。

关键词：上海光学精密机械研究所闪烁晶体高分辨率 x光成像 YAG Ce 超薄光机