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x射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)
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光谱学与光谱分析 2000年 第3期20卷 399-401页
作者: 谭秉和 王桂华 北京科技大学化学系 北京100083
本文首先在理论分析基础上 ,建立多元素样品的重量分数 Ci、x射线荧光相对强度 Ri 与基体效应因子 Fi 的代数关系。然后 ,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法 ,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了 6个耐热... 详细信息
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x射线荧光分析原级能谱分布的MCNP模拟
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原子能科学技术 2010年 第B09期44卷 496-499页
作者: 谈春明 清华大学核能与新能源技术研究院 北京100084
x射线荧光分析中,入射激发能谱是影响元素特征荧光强度大小的直接因素。本文使用MCNP程序模拟不同条件下电子打靶后的x射线能谱分布,计算结果能够反映不同条件下特征谱线和连续谱线的特点。模拟能谱数据可用于x射线荧光分析的数据处理。
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x射线荧光分析x射线管原级能谱分布的测定
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光学学报 2006年 第4期26卷 634-638页
作者: 纪新明 王建业 贾文红 朱节清 黄宜平 上海复旦大学微电子系 上海200433
确切知道x射线管激发的原级能谱分布是x射线荧光分析中的一个重要前提,所用能谱分布函数的准确度大大影响了最终的测量结果。提出利用间接测量法,选用合适的参量模型来描述x射线的原级能谱分布。依靠实验测得的厚靶纯元素样品的荧光强度... 详细信息
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x射线荧光分析法测定铁矿石中全铁
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冶金分析 2011年 第7期31卷 18-21页
作者: KATAOKA Y HOMMA H KOHNO H 日本理学公司
铁矿石中全铁的含量范围通常较宽,因此需要高的分析精确度。尽管熔融制样法已经被普遍用于铁矿石的x射线荧光光谱分析,但作为样品制备的另一种方法,压片法由于简便、快捷的特点,其应用需求同样较大。康普顿散射比法已经被普遍用于岩石... 详细信息
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Lucy-Richardson迭代解谱在x射线荧光分析的应用
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光谱学与光谱分析 2021年 第9期41卷 2823-2828页
作者: 祝宇轩 陆景彬 赵晓帆 刘晓艳 崔苇苇 李炜 王于仨 吕中华 陈勇 吉林大学物理学院 吉林长春130012 中国科学院高能物理研究所 北京100049 中国科学院大学 北京100049 黑龙江大学核科学与技术学院 黑龙江哈尔滨150080
x射线调制望远镜是我国第一颗x射线天文卫星,其载荷低能x射线望远镜采用了SCD型探测器CCD236,主要对能量在0.7~13.0 keV的软x射线光子进行观测。卫星发射前,需要对探测器进行详细的性能标定,其中包括能量响应矩阵的标定。能量响应矩... 详细信息
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x射线荧光分析在铅锌精矿检验中的应用
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金属矿山 2000年 第8期29卷 28-29页
作者: 王坚 庹先国 成毅 李亿红 湖南省株洲冶炼厂 成都理工大学
介绍了采用x射线荧光分析方法进行铅、锌冶炼企业进厂铅、锌精矿 (湿样 )质量检验。结果表明 ,该方法可以满足现场质量检验要求 ,能够对进厂原料进行现场鉴定及辨别。
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x射线荧光分析测定不同品牌大米中的微量元素
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北京师范大学学报(自然科学版) 2016年 第2期52卷 156-160页
作者: 王君玲 黎龙辉 段泽明 李融武 潘秋丽 程琳 北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室北京市辐射中心 北京100875 北京师范大学物理学系 北京100875
大米是人类从外界获得营养的主要方式之一,大米中的微量元素对人体的健康有重要的意义.为人体合理补充微量元素提供参考意见.本文利用x射线荧光分析方法并结合干灰化样品前处理方法研究了岳阳、五常、新民、哈尔滨、万昌等5种不同品牌... 详细信息
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一种基于热释电效应的x射线荧光分析谱仪
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光谱学与光谱分析 2016年 第2期36卷 550-554页
作者: 董亦凡 樊瑞睿 郭东亚 张春雷 高旻 汪锦州 刘雅清 周大卫 王焕玉 中国科学院高能物理研究所 粒子天体物理重点实验室北京100049 中国科学院大学 北京100049
利用热释电晶体实现了一个x射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个x射线荧光分析谱仪。首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生x射线的影响选定了激发源的设计参数;然后测量了激发源发射的x射线本底,... 详细信息
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同步辐射掠出射x射线荧光分析薄膜膜厚
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高能物理与核物理 2005年 第11期29卷 1104-1106页
作者: 巩岩 陈波 尼启良 崔明启 赵屹东 吴忠华 应用光学国家重点实验室中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 长春130033 中国科学院高能物理研究所 北京100049
掠射x射线荧光分析为薄层和多层膜特性分析提供了潜在的可能。尤其是可以探测膜层厚度、界面形貌和组成。以北京同步辐射光源作激发光源,采用掠出射方法测试了Si基片上不同厚度的单层Cr膜样品,测试结果与理论计算基本符合。同时观察到... 详细信息
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x射线荧光分析技术测定镀、包金层的厚度
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原子能科学技术 1998年 第1期32卷 49-53页
作者: 邓艳丽 李卫华 刘宝生 刘际时 中国原子能科学研究院核技术应用研究所
把X射线荧光分析和低能γ射线散射技术相结合,准确地测量了镀、包金制品的镀、包金层厚度。可测定的最大镀、包层厚度为70μm,测量准确度好于10%。
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