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作者

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  • 1 篇 马鸿
  • 1 篇 ma qinsheng
  • 1 篇 蒿杰
  • 1 篇 彭思龙
  • 1 篇 wang min
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语言

  • 1 篇 英文
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检索条件"主题词=VLSI circuit"
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Random testing for system-level functional verification of system-on-chip
收藏 引用
Journal of Systems Engineering and Electronics 2009年 第6期20卷 1378-1383页
作者: Ma Qinsheng Cao Yang Yang Jun Wang Min School of Electronic Information Wuhan Univ. Wuhan 430079 P. R. China State Key Lab. of Software Engineering Wuhan Univ. Wuhan 430072 P. R. China Second Dept. Commanding Communications Academy Wuhan 430010 P. R. China
In order to deal with the limitations during the register transfer level verification, a new functional verification method based on the random testing for the system-level of system-on-chip is *** validity of this me... 详细信息
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Recursive bisection placement algorithm with the predicted wirelength
收藏 引用
Journal of Southeast University(English Edition) 2008年 第4期24卷 462-467页
作者: 蒿杰 马鸿 彭思龙 中国科学院自动化研究所国家专用集成电路设计工程研究中心 北京100190
To obtain a better placement result, a partitioning-based placement algorithm with wirelength prediction called HJ-Pl is presented. A new method is proposed to estimate proximity of interconnects in a netlist, which i... 详细信息
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