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Low-Temperature and Surfactant-Free Synthesis of Mesoporous TiO_2 sub-micron Spheres for Efficient Dye-Sensitized Solar Cells

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Journal of Materials Science & Technology 2016年第1期32卷 17-23页

作者： Kaimo Deng Liang Li College of Physics Optoelectronics and Energy & Collaborative Innovation Center of Suzhou Nano Science and TechnologySoochow University

Dye-sensitized solar cells （DSSCs） are one of the most promising next-generation solar cells due to their advantages over other counterparts. The photoanode of DSSCs has a great effect on the photovoltaic per- formance. Traditional photoanode includes a bottom nanoparticle layer and an upper scattering layer for better light capture in longer wavelength. Mesoporous nanostructures with size comparable to the wavelength of visible light are considered to be excellent light scattering centers by providing extra places for dye loading. Developing a green synthetic method is of great importance. Herein we report a facile and surfactant-free synthesis of mesoporous futile TiO2 submicrometer-sized spheres at temperature as low as 70 ℃. DSSCs based on photoanodes with an upper scattering layer composed of as-obtained mesoporous spheres on nanoparticle dense layer demonstrate an 18.0% improvement of power conver- sion efficiency. This simple approach may offer an energy-efficient and environmentally friendly alternative for DSSCs fabrication.

关键词： Titanium dioxide Mesoporous sub-micron Light scattering Dye-sensitized solar cells Energy harvesting

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Δ<i>I<sub>DDQ</sub></i>Testing of a CMOS Digital-to-Analog Converter Considering Process Variation Effects

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Circuits and Systems 2011年第3期2卷 133-138页

作者： Rajiv Soundararajan Ashok Srivastava Siva Sankar Yellampalli 不详

In this paper, we present the implementation of a built-in current sensor (BICS) which takes into account the increased background current of defect-free circuits and the effects of process variation on ΔIDDQ testing of CMOS data converters. A 12-bit digital-to-analog converter (DAC) is designed as the circuit under test (CUT). The BICS uses frequency as the output for fault detection in CUT. A fault is detected if it causes the output frequency to deviate more than ±10% from the reference frequency. The output frequencies of the BICS for various (MOSIS) model parameters are simulated to check for the effect of process variation on the frequency deviation. A set of eight faults simulating manufacturing defects in CMOS data converters are injected using fault-injection transistors and tested successfully.

关键词： IDDQ Testing DAC BICS sub-micron CMOS IC ΔIDDQ Testing Process Variation Background Current

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