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The Investigation on Single Event Function Failure for DC/DC Converters with Three Single Terminal Topological Structures

引用

Chinese Journal of Electronics 2016年第6期25卷 1097-1100页

作者： LI Pengwei WANG Wenyan LUO Lei YU Qingkui TANG Min DU Feipeng LIU Jie China Academy of Space Technology East China Institute of Microelectronics Technology Lanzhou Institute of Modern Physics Chinese Academy of Sciences

Heavy ion radiation experiments have been done to DC/DC converters with different topological structures for space applications. The test results were analyzed about the function failure of three topological structures caused by single event effects. The relationship between the function failure and the input supply voltage, the output load current and the topological structure of the module were discussed. Based on the analysis of the variation relationship among the source/drain terminal voltage of MOSFETs and the input voltage and the output load, the sensitivity factors associated with the function failure caused by single event effects were discussed. A new analysis on single event function failure of DC/DC converter based on different topologies has been presented, which can be applied to radiation hardened design and space application.

关键词： DC/DC converter Single event function failure sensitive factors Topological structure

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