咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 会议

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 dft
  • 1 篇 atpg
  • 1 篇 scan design
  • 1 篇 rtl dft

机构

  • 1 篇 marvell semicond...

作者

  • 1 篇 ong chin hu
  • 1 篇 ng wei tee
  • 1 篇 ang boon hui

语言

  • 1 篇 英文
检索条件"主题词=RTL DFT"
1 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
The Importance of rtl dft Check In ASIC Design
The Importance of RTL DFT Check In ASIC Design
收藏 引用
7th Workshop on rtl and High Level Testing
作者: Ng,Wei Tee Ong,Chin Hu Ang,Boon Hui Marvell Semiconductor Marvell Semiconductor Marvell Semiconductor
<正>This paper discusses the rtl dft check in ASIC design flow for achieving faster turn-around time. We discuss the key rtl dft design rules and flow followed by its general benefits. The correlation between rtl an... 详细信息
来源: cnki会议 评论