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空封光电耦合器内部多余物颗粒pind检出概率研究

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半导体光电 2021年第1期42卷 72-75,99页

作者：李冰丁鹏金晖陈春霞鲍江石云莲重庆光电技术研究所重庆400060

空封光电耦合器内部残留的多余物颗粒对其可靠性有严重影响,粒子碰撞噪声检测(pind)是多余物颗粒检测的主要手段,但是存在一定的漏检。基于pind试验中的电压采样数据建立了检出概率的模型,并利用该模型研究了同等质量下典型颗粒的分布... 详细信息

空封光电耦合器内部残留的多余物颗粒对其可靠性有严重影响,粒子碰撞噪声检测(pind)是多余物颗粒检测的主要手段,但是存在一定的漏检。基于pind试验中的电压采样数据建立了检出概率的模型,并利用该模型研究了同等质量下典型颗粒的分布区域、试验频率与检出概率的关系,结果表明陶瓷颗粒和导电胶颗粒分别受到碰撞对象硬度和颗粒粘附性的较大影响,使其在不同区域的检出概率具有明显差异,其中导电胶颗粒的检出概率因颗粒弹性弱而整体偏小,但在试验频率上升后有明显改善,而短金丝因粘附性弱、弹性强,检出概率大且稳定。据此提出了对典型多余物颗粒的控制与检测方法,采用该方法能够有效地提高光电耦合器的可靠性。所用模型和研究方法可推广至其他空封元器件的类似研究中。

关键词：空封光电耦合器多余物颗粒 pind 电压采样检出概率

pind用冲击闭环控制系统的仿真建模与实现

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PIND用冲击闭环控制系统的仿真建模与实现

作者：赵国强哈尔滨工业大学

学位级别：硕士

颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection,pind)试验是进行多余物检测的有效手段,对提高国防电子系统的可靠性有重要意义。冲击闭环控制系统是pind系统的重要组成部分,能模拟真实环境中脉冲激励,激活束缚在被测试件腔体内部... 详细信息

颗粒碰撞噪声检测(Particle Impact Noise Detection,pind)试验是进行多余物检测的有效手段,对提高国防电子系统的可靠性有重要意义。冲击闭环控制系统是pind系统的重要组成部分,能模拟真实环境中脉冲激励,激活束缚在被测试件腔体内部的多余物颗粒并使之游离,可有效提升pind系统的检测能力。针对pind方法中冲击加速度强度不高、峰值稳定性差和冲击校准试验不易收敛、收敛速度慢等问题,本文对pind检测设备中冲击闭环控制系统进行了深入研究。首先,本文提出冲击闭环控制系统的总体方案设计。依据pind方法中的冲击试验规范,提出冲击试验条件;基于系统暂态和稳态特性分析,提出冲击闭环控制系统的性能指标;依据自动控制理论,制定冲击闭环控制系统的总体方案,分别提出硬件方案设计和软件方案设计。其次,建立电动振动台的数学模型并辨识模型参数。通过分析电动振动台的机械机构和工作原理,基于质量-弹簧力学系统建立电动振动台冲击过程模型,确定冲击加速度峰值与工作台速度间的关系;基于电磁理论和动力学理论,建立电动振动台的数学模型,采用系统辨识的方法估计电动振动台模型参数,确定振动台输入电压与工作台加速度间的关系。通过工作台的速度与加速度间的微积分关系,建立振动台输入电压与冲击加速度峰值间的联系。然后,建立基于PID控制的冲击闭环控制系统仿真模型并优化模型参数。依据PID控制原理及其性能指标,设计PID控制器;应用Simulink工具,建立冲击闭环控制系统仿真模型;基于系统暂态响应特性,确定PID控制器模型参数;建立系统反馈信号模型,分析影响系统偏差的关键因素,寻找最优控制策略,确定系统给定输入与工作台速度间的关系。仿真实验结果表明:基于速度反馈的冲击闭环控制系统对工作台速度的控制误差保持在5%以内。最后,搭建冲击闭环控制系统的软硬件实验平台。分别设计冲击闭环电路、加速度采集电路、主控电路和功率放大电路等电路,实现系统的硬件环境;针对冲击校准试验不易收敛、收敛速度慢等问题,提出基于迭代学习控制算法的校准控制方法。实验结果表明,冲击闭环控制系统实现了对冲击加速度峰值的精确控制,峰值误差保持在5%以内,最大峰值从2000g(1g=9.8m/s2)提高到2500g,带载能力达到0.1Kg;冲击校准稳定收敛,校准次数保持在10次以下。

关键词： pind 冲击试验振动台模型 PID控制迭代学习控制算法

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pind振动台加速度自动标定系统设计

机电元件 2014年第2期34卷 27-33页

作者：牛鹏飞赵国强梁安生翟国富哈尔滨工业大学军用电器研究所黑龙江哈尔滨150001 中国人民解放军总参谋部通信训练基地河北张家口075100

微粒碰撞噪声检测(pind)是密封继电器出厂前必做试验。目前在国内还没有专门针对于pind实验的振动台设计标定系统。本文完成了一种pind振动台加速度自动标定系统设计。利用Endevco公司生产的电压型加速度传感器7250AM1-2将pind振动台加... 详细信息

微粒碰撞噪声检测(pind)是密封继电器出厂前必做试验。目前在国内还没有专门针对于pind实验的振动台设计标定系统。本文完成了一种pind振动台加速度自动标定系统设计。利用Endevco公司生产的电压型加速度传感器7250AM1-2将pind振动台加速度信号转换为电压信号,经过调理放大后,采用STM32单片机为核心处理模块,控制AD芯片AD7688以250K的采样率对其进行采集,并以美国Dunegang公司的Model4501振动台为试样进行了标定测试。实验结果表明,该自动标定系统自动化程度高,满足pind试验系统的要求,且一致性和稳定性较好。

关键词：振动台标定 pind 自动化

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pind试验的特殊属性和适用范围研究

信息技术与标准化 2012年第9期 68-70页

作者：吴维丽王瑞曾金毓铨中国电子科技集团第五十五研究所

研究了pind试验的特殊属性——试验结果的不确定性,pind试验的目的是检测极小颗粒的多余物,设备必须具备很高的灵敏度,因而也就极易受到外界的干扰产生误判,由此分析认为该试验适用于筛选,并具有不可替代的作用,但不适用于质量一致性检验。

关键词： pind 多余物筛选质量一致性检验

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气密性陶瓷封装pind失效分析及解决方案

电子与封装 2007年第11期7卷 1-4页

作者：郭伟葛秋玲中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035

气密性陶瓷封装腔体内的自由粒子会严重影响到器件的可靠性。减少封装腔体内自由粒子数量,提高pind合格率是气密性封装的主要技术之一。文章就陶瓷外壳封装集成电路pind失效进行了分析,指出其主要原因,如外壳内部有瓷颗粒、芯片边缘未... 详细信息

气密性陶瓷封装腔体内的自由粒子会严重影响到器件的可靠性。减少封装腔体内自由粒子数量,提高pind合格率是气密性封装的主要技术之一。文章就陶瓷外壳封装集成电路pind失效进行了分析,指出其主要原因,如外壳内部有瓷颗粒、芯片边缘未脱落的硅碴(屑)、芯片边沿的粘接材料卷起、脱落的粘接材料碎片、键合丝(或尾丝)、悬伸的合金焊料、封帽飞溅的合金焊料、平行缝焊打火飞溅的焊屑等,并提出了在封装工艺过程中如何对可能产生自由粒子的因素采取有效预防措施。最终使电路的粒子碰撞噪声检测合格品率达到98%以上,达到实际应用要求。

关键词： pind 噪声自由粒子

基于电参数的密封继电器pind极限试验条件验证方法的研究

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电器与能效管理技术 2014年第20期 5-9,32页

作者：牛鹏飞赵国强梁安生王国涛王淑娟哈尔滨工业大学军用电器研究所黑龙江哈尔滨150001 中国人民解放军总参谋部通信训练基地河北张家口075100

微粒碰撞噪声检测(pind)试验是检测密封继电器内部是否存在多余物的一种有效办法。通过相应的试验验证方法来研究pind极限试验条件。较强的pind试验条件可以更好地激活多余物,但可能对密封继电器内部组件造成损伤。针对该问题,提出了一... 详细信息

微粒碰撞噪声检测(pind)试验是检测密封继电器内部是否存在多余物的一种有效办法。通过相应的试验验证方法来研究pind极限试验条件。较强的pind试验条件可以更好地激活多余物,但可能对密封继电器内部组件造成损伤。针对该问题,提出了一种基于电参数的密封继电器pind极限试验条件验证方法,以两种型号的真实继电器作为试验对象,通过对比大量试验数据的统计结果,证明了冲击极限试验条件的存在,为密封继电器pind极限试验条件的研究提供了一种简便有效的验证方法,为研究密封继电器的pind最佳冲击试验条件奠定了基础。

关键词：电参数极限试验条件 pind 密封继电器

航天继电器pind极限冲击试验条件仿真研究

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机电元件 2013年第4期33卷 44-50页

作者：梁安生王国涛王思易王瑛琪翟国富哈尔滨工业大学军用电器研究所黑龙江哈尔滨150001 中国人民解放军总参谋部通信训练基地河北张家口075100

微粒碰撞噪声检测(pind)是航天继电器出厂前必做的多余物检测试验,冲击试验条件强度越大,多余物微粒越容易被激活,但过大的冲击强度会使继电器内部组件发生疲劳损伤和塑性变形。针对实验研究法和理论推导法在研究极限冲击试验条件时可... 详细信息

微粒碰撞噪声检测(pind)是航天继电器出厂前必做的多余物检测试验,冲击试验条件强度越大,多余物微粒越容易被激活,但过大的冲击强度会使继电器内部组件发生疲劳损伤和塑性变形。针对实验研究法和理论推导法在研究极限冲击试验条件时可操作性不强的问题,本文提出了航天继电器pind极限冲击条件仿真研究方法。以某型号航天继电器为例,利用Patran/Nastran软件建立被试器件的有限元模型,仿真分析各组件在外加冲击激励下的响应。根据仿真结果研究被试器件响应的变化规律和pind极限冲击试验条件,并通过实验证明了该方法的有效性。

关键词： pind 继电器冲击条件有限元 Patran Nastran

基于pind多余物检测设备的脉冲提取方法设计

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电器与能效管理技术 2019年第10期 21-26,73页

作者：郜雷阵燕会臻王国涛王强哈尔滨工业大学电器与电子可靠性研究所黑龙江哈尔滨150001 黑龙江大学电子工程学院黑龙江哈尔滨150008

在多余物检测过程中,信号脉冲的提取是判断多余物有无和后续算法分析的基础。介绍了传统脉冲提取方法的原理,通过优化原有的分析线程,提高了相应的检测速度与精度;设计基于短时平均能量和短时平均过零率两个相关特征的两级门限法,提升... 详细信息

在多余物检测过程中,信号脉冲的提取是判断多余物有无和后续算法分析的基础。介绍了传统脉冲提取方法的原理,通过优化原有的分析线程,提高了相应的检测速度与精度;设计基于短时平均能量和短时平均过零率两个相关特征的两级门限法,提升了所提取脉冲信号的完整程度。试验结果表明,两级门限法对信号脉冲有较好的提取效果,尤其对小信号脉冲的提取更加精确。

关键词： pind 多余物特征参数脉冲提取

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松散微粒子环境与pind试验

环境技术 1988年第4期 9-12页

作者：曾纪科电子部第五研究所

本文略述了松散微粒子环境的重要性及其对产品可靠性的影响;略述了pind试验的由来、试验条件、设备以及试验的效果。

关键词：微粒子元器件 pind 继电器电子元件