咨询与建议
  • 全部检索
  • 电子图书
  • 电子期刊
  • 纸本馆藏
  • 南通市公共图书馆
高级检索

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程（可...
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 深能级
  • 1 篇 picts法
  • 1 篇 测量
  • 1 篇 si-gaas
  • 1 篇 缺陷

机构

  • 1 篇 复旦大学

作者

  • 1 篇 龚大卫
  • 1 篇 陆昉
  • 1 篇 孙恒慧

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=PICTS法"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
详细 简洁
排序：
picts方法研究SI-GaAs中深能级缺陷性质
收藏
分享
引用
Journal of Semiconductors 1992年 第1期13卷 1-7页
作者： 龚大卫 陆昉 孙恒慧 复旦大学物理系 上海200433
本文用 picts方法配合退火实验对各种 LEC SI-GaAs材料的缺陷进行了测量,对照文献已有的各种结果,分析和讨论了一些缺陷的成因和可能结构.认为其中的W_1 可能是与As_(Ga)有关的 EL3缺陷,W_4为热应力产生的缺陷.P_1 与V_(Ga)有关.在原生... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页 <<  < 1 >  >>
回到顶部
执行限定条件