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Structural and Surface Morphology Analysis of Copper Phthalocyanine Thin Film Prepared by Pulsed Laser Deposition and Thermal Evaporation Techniques

引用

Advances in Materials Physics and Chemistry 2016年第4期6卷 85-97页

作者： Mohammed T. Hussein Kadhim A. Aadim Eman K. Hassan Department of Physics College of Science University of Baghdad Baghdad Iraq

In the present paper, Copper Phthalocyanine (cupc) thin films were deposited on glass and silicon substrate by thermal evaporation and pulsed laser deposition (PLD) methods. cupc thin films prepared at different annealing temperatures (298, 323, 348, 373, 423 K) respectively. The structure and surface morphology of cupc in powder and thin films forms prepared by two methods were studied using Energy dispersive X-ray (EDX), X-ray f§lt;span§gt;lorescence (XRF), X-ray§lt;/span§gt;diffraction (XRD), Atomic force microscope (AFM), and Scanning electron microscope (SEM). It showed that there was a change and enhancement in the crystallinity and surface morphology due to change in the annealing temperature (T§lt;sub§gt;a§lt;/sub§gt;). The purpose of our work is to find the optimal temperature for which the film produces best structural properties for cupc thin film to produce organic field effect transistor. Analysis of X-ray diffraction patterns of cupc in powder form showed that it had an α-poly-crystalline phase with monoclinic structure, with preferentially oriented (100) plane transform to §lt;i§gt;β§lt;/i§gt;-single crystalline morestable structure at different annealing temperatures.

关键词： organic cupc Pulse Laser Deposition XRD EDX AFM Morphology

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