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Study on MCM Interconnect Test Generation Based on Ant Algorithm with Mutation Operator

上海交通大学学报 2007年第S2期41卷 150-153页

作者：陈雷 Dept.of Computer Science Guilin Univ.of Electronic Technology

A novel multi-chip module(MCM) interconnect test generation scheme based on ant algorithm(AA) with mutation operator was *** combing the characteristics of MCM interconnect test generation,the pheromone updating rule and state transition rule of AA is *** mutation operator,this scheme overcomes ordinary AA’s defects of slow convergence speed,easy to get stagnate,and low ability of full *** international standard MCM benchmark circuit provided by the MCNC group was used to verify the *** results of simulation experiments,which compare to the results of standard ant algorithm,genetic algorithm(GA) and other deterministic interconnecting algorithms,show that the proposed scheme can achieve high fault coverage,compact test set and short CPU time,that it is a newer optimized method deserving research.

关键词： multi-chip module(MCM) interconnect test ant algorithm(AA) test generation mutation

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