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Application of ccd Technique to Stress and Strain Measurements of Metals

Semiconductor Photonics and Technology 1999年第4期5卷 242-246页

作者： XING Kai,CAO Chang-nian,YANG Dong-sheng GAO Hong-wen,LIU Lin,YANG Yong-zheng (Dept.of Appl.Phys.,Northwestern Polytechnical University,Xi’an 710072,CHN) 西北工业大学应用物理系陕西西安

Crossed grating stuck to metal surface was used as a strain sensor in the present work, and stress as well as strain were then investigated by accurately determining the change in the position of diffraction spot before and after deformed. A hardware testing system for linear ccd array, data gathering and processing was therefore developed for this purpose. Experimental results showed that the system has a good accuracy and can be used to measure stress and strain of metal surface in a real-time and quantitative manner.

关键词： Crossed Grating linear ccd array Metal Stress Strain

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