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Ranking Modules for integrate testing Based on PageRank Algorithm
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Chinese Journal of Electronics 2017年 第5期26卷 993-998页
作者: SUN Qi Krishna Ricky MONIZ YUAN Yuyu Key Laboratory of Trustworthy Distributed Computing and Service(BUPT) Ministry of EducationBeijing University of Posts and Telecommunications
The testing industry need to prioritize the limited resources and focus on testing modules whose failure is mostly likely to cause *** paper discusses a method that can rank modules in a software package for integrate... 详细信息
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