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现代电子技术 2022年第1期45卷 161-165页

作者：黄新宋博源郭晓敏林洁沁桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西桂林541000

为利用传统JTAG接口实现对SOC内部大量特定IP测试仪器进行测试控制,提出并创新设计了一种基于传统JTAG接口的可通用、可移植的IEEE 1687标准单层网络测试方法。该方法通过结合IEEE 1149.1标准中TAP控制器结构,提出由改进TAP控制器和改... 详细信息

为利用传统JTAG接口实现对SOC内部大量特定IP测试仪器进行测试控制,提出并创新设计了一种基于传统JTAG接口的可通用、可移植的IEEE 1687标准单层网络测试方法。该方法通过结合IEEE 1149.1标准中TAP控制器结构,提出由改进TAP控制器和改进IR组成ijtag结构,实现对嵌入式仪器测试访问片内硬件通用接口的设计验证;该测试方法中涵盖了IEEE 1687标准中定义的SIB访问机制和硬件结构,通过外部测试模式选择信号对IR中内置指令进行选择,实现特定SIB打开接入对应测试仪器。该测试方法通过仿真验证了可行性,从而解决了对SOC内部各种测试仪器进行统一测试的控制网络问题,该方法支持常用测试接口标准,同时提出通用操作指令,具有较高的通用性和可移植性。

关键词：单层网络测试 ijtag IEEE标准测试控制 SOC测试内置指令选择设计验证

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基于SoC的可测性设计的方法与实现

基于SoC的可测性设计的方法与实现

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作者：石康康电子科技大学

学位级别：硕士

随着半导体工艺的不断发展,集成电路的制造工艺愈加先进,芯片的集成度越来越高,电路和系统的复杂性不断增加,这导致芯片测试的难度和测试成本变得越来越高。为了应对这种测试情况,可测性设计(Design For Testability,DFT)被提出并逐渐... 详细信息

随着半导体工艺的不断发展,集成电路的制造工艺愈加先进,芯片的集成度越来越高,电路和系统的复杂性不断增加,这导致芯片测试的难度和测试成本变得越来越高。为了应对这种测试情况,可测性设计(Design For Testability,DFT)被提出并逐渐形成了以扫描设计、内建自测试设计和边界扫描设计为核心的测试局面,但由于SoC(System On Chip)上集成的处理器、存储、通信接口和计算单元等多种复杂电路和IP(Intellectual Property),传统的可测性设计流程不仅实现起来效率较低,而且由于各种可测性设计方法之间的独立性,存在很多的冗余过程,也无法对插入的测试逻辑部分实现可控性和可观性,从而无法获得较高的测试覆盖率。如何优化可测性设计流程,高效运用各种可测性设计方法,提高测试覆盖率,已经成为当今集成电路设计和制造中的重要课题。本文以Tessent Shell平台的DFT设计方案和流程为基础,结合几种可测性设计方法,对一个具有54万触发器的SoC设计进行了可测性设计与实现,并基于vcs对插入的DFT硬件结构进行了仿真验证。本文主要从以下几个方面展开研究:(1)分析数字集成电路的故障模型,引出几种主要的可测性设计方法,分析各种可测性设计方法的工作原理,并对基于IEEE1687标准的测试结构进行了探讨,为后续可测性设计在SoC设计中的具体实现提供理论支撑。(2)分析Tessent Shell平台下的两种DFT插入流程,对比两种插入流程的区别与优缺点,重点分析Hierarchy Flow,为SoC设计的DFT实现提供方案。(3)基于Hierarchy Flow,对SoC设计进行DFT实现前的整体规划,详细阐述DFT插入的具体步骤,根据项目实际情况进行个性化配置,完成对SoC设计的DFT插入和验证工作。

关键词：可测性设计片上系统扫描链内建自测试边界扫描 ijtag

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基于IEEE P1687的可变扫描链设计

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计算机测量与控制 2012年第9期20卷 2357-2359,2380页

作者：刘洋颜学龙桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西桂林541004

在系统芯片SoC中,嵌入式仪器的应用越来越广泛;如何利用已经获得广泛应用的IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)实现对嵌入式仪器的访问成为一个新的问题;IEEE P1687(ijtag)建议标准提供了一个连接TAP与片上嵌入式仪器的界面标准;其特点是在... 详细信息

在系统芯片SoC中,嵌入式仪器的应用越来越广泛;如何利用已经获得广泛应用的IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)实现对嵌入式仪器的访问成为一个新的问题;IEEE P1687(ijtag)建议标准提供了一个连接TAP与片上嵌入式仪器的界面标准;其特点是在扫描链中插入SIB使得在嵌入式仪器网络设计和嵌入式仪器的访问中扫描链具有灵活可变的特性;介绍了IEEE P1687标准,分析了IEEE 1149.1在嵌入式仪器访问应用中的缺点及IEEE P1687的优势,并设计实现了SIB的功能,给出了P1687的单层与多层网络结构,并对所需功能进行了仿真验证证明方案可行。

关键词：嵌入式仪器 IEEE P1687 ijtag SIB

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基于IEEE 1687的SOC测试结构研究与实现

基于IEEE 1687的SOC测试结构研究与实现

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作者：宋博源桂林电子科技大学

学位级别：硕士

SOC测试结构研究是当今可测性设计研究领域内的重要课题。SOC内部集成了中央处理器内核、储存单元、通信接口、内部总线以及特定功能电路等多种复杂单元。为提高芯片的可测性,通常需要在SOC内部增加测试结构。IEEE 1687标准提出,在SOC... 详细信息

SOC测试结构研究是当今可测性设计研究领域内的重要课题。SOC内部集成了中央处理器内核、储存单元、通信接口、内部总线以及特定功能电路等多种复杂单元。为提高芯片的可测性,通常需要在SOC内部增加测试结构。IEEE 1687标准提出,在SOC内部对应不同芯片内部测试单元,芯片厂商设置不同测试功能的测试仪器,完成芯片内部测试。测试控制器通过SOC的JTAG接口,利用TAP控制器,驱动指令寄存器输出指令,访问不同层次结构的网络,打开目标SIB,经测试数据寄存器实现对内部测试仪器的控制和访问,提高了SOC测试的可控性。设计实现了基于IEEE 1687标准的单层网络结构。该测试结构涵盖了IEEE 1687标准中定义的SIB结构、测试数据寄存器结构、单层网络连接结构等硬件结构。设计实现了对片内单层网络结构,提出了改进TAP控制器和改进指令寄存器结构。使用通过外部测试模式选择信号对指令寄存器中的内置指令进行选择,实现对SIB链路的配置,从而实现对嵌入式测试仪器的访问。设计实现了基于IEEE 1687标准的多层网络结构。在单层网络结构的基础上,提出并设计了一种以SIB链路为核心的多层网络结构模块化设计方案。设计改进了多层网络TAP控制器和指令控制器结构,实现了通过外部测试模式选择信号对内部指令编码状态译码。该设计结构能够满足大量、多种类、多优先级测试访问需求。设计实现了基于ijtag结构的复合网络。以ijtag架构为基础,结合基础结构、单层网络结构、多层网络结构,实现了多功能、多用途的复合型网络设计。复合网络结构以传统JTAG为外部接口,设计了顶层TAP控制器结构,实现了传统JTAG模式和ijtag模式复用功能,同时利用ijtag控制器实现对ijtag访问状态选择进行控制。本文对基于IEEE 1687标准的单层网络结构、多层网络结构以及基于ijtag结构的复合网络分别进行了仿真验证,证明了各结构设计的有效性。实现了基于IEEE1687标准不同测试结构的设计验证,满足了增加SOC内部测试可控性的要求。

关键词： SOC测试可测性设计 IEEE 1687 联合测试工作组 ijtag

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