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Epitaxial growth and in-plane dielectric properties of orthorhombic homno_3 films

Science China(Physics,Mechanics & Astronomy) 2014年第10期57卷 1875-1878页

作者： GAO Ping WANG WeiTian ZHANG Wei SUN YuMing Institute of Opto-Electronic Information Science and Technology Yantai University

Orthorhombic homno3(HMO) thin films were grown epitaxially on LaAlO3(001) substrates by using pulsed laser deposition technique. The films showed perfect orthorhombic crystallization and were well-aligned with the substrates. The in-plane dielectric constant and loss of HMO films were measured as functions of temperature(80–300 K) and frequency(120 Hz–100 kHz) by using coplanar interdigital electrodes. Two thermally activated dielectric relaxations were found, and the respective peaks shifted to higher temperatures as the measuring frequency increased. The in-plane dielectric properties of epitaxial orthorhombic HMO films were considered as universal dielectric response behavior, and the dipolar effects and the hopping conductivity induced by the charge carriers were used to explain the results.

关键词： dielectric properties interdigital electrodes homno3 thin films orthorhombic

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