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Deformation and Failure of Damage-Free Submicron-Sized Metallic Glass Wires Under Uniaxial Tension

Journal of Iron and Steel Research International 2012年第S2期19卷 1123-1126页

作者： ZHAO Kai School of Metallurgical and Materials Engineering Chongqing University of Science and Technology WPI-Advanced Institute for Materials Research Tohoku University

field ion microscopy was applied for uniaxial tension tests at cryogenic *** plastic deformation of near damage-free submicron-sized metallic glass wires was found to remain shear band operation even the diameter was less than 200 *** critical sample dimension for inhomogeneous-to-homogeneous transition may be overestimated before.

关键词： Metallic glass field ion microscopy Tension

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Atomic Structure of the Pt Surface after Bombardment with Ar⁺ ions (E ~ 30 keV)

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Advances in Materials Physics and Chemistry 2023年第5期13卷 77-84页

作者： Vladimir Aleksandrovich Ivchenko Federal State Budgetary Institution of Science Institute of Electrophysics Ural Branch of the Russian Academy of Sciences Yekaterinburg Russia

The results of the modification of the atomic structure of the Pt surface after bombardment by accelerated beams of Ar+ ions are presented. field ion microscopy was used to study the irradiated surface on an atomic scale. From the analysis of the ion contrast of the atomically clean surface of platinum after bombardment with Ar+, a large number of radiation defects of various types were found. Individual vacancies, interstitial atoms, Frenkel pairs, depleted zones, nanoclusters of displaced atoms, etc. have been registered. It has been established that the depth of the near-surface volume of the irradiated metal with defects (except for zero-dimensional defects) is 1 - 1.5 nm for the bombardment regime: F = 1016 ion/cm2 and E = 30 keV.

关键词： Surface radiation Defects field ion microscopy

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Deformation and Failure of Damage-Free Submicron-Sized Metallic Glass Wires Under Uniaxial Tension

Deformation and Failure of Damage-Free Submicron-Sized Metal...

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第七届冶金与材料电磁过程国际会议（EPM2012）

作者： ZHAO Kai School of Metallurgical and Materials Engineering Chongqing University of Science and Technology WPI-Advanced Institute for Materials Research Tohoku University

关键词： Metallic glass field ion microscopy Tension

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