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evaluating electron induced degradation of triple-junction solar cell by numerical simulation

Optoelectronics Letters 2021年第5期17卷 276-282页

作者： LI Jun-wei WANG Zu-jun SHI Cheng-ying XUE Yuan-yuan NING Hao XU Rui Xi’an Research Institute of High-Technology Xi’an710025China Northwest Institute of Nuclear Technology Xi’an710024China School of Materials Science and Engineering Xiangtan UniversityXiangtan411105China

In this paper,the degradation related parameters of GaInP/GaAs/Ge triple-junction solar cell induced by electron irradiation are carried out by numerical *** degradation results of short-circuit current,open-circuit voltage,maximum power have been investigated,and the degradation mechanism is *** the degradation results,the degradation of normalized parameters versus displacement damage dose is *** results show that the degradation increases with the increase of the electron fluence and electron irradiation *** degradation normalized related parameters versus displacement damage dose can be characterized by a special curve that is not affected by the type of irradiated *** calculating the annual displacement damage dose and the on-orbit operation time of special space orbit,the degradation of normalized parameters can be obtained with the fitting curve in the *** study will provide an approach to estimate the radiation damage of triple-junction solar cell induced by space particle irradiation.

关键词： evaluating electron induced degradation of triple-junction solar cell by numerical simulation

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