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ecl亚毫微秒电路衬底制备中的一些问题

半导体技术 1980年第6期 1-6页

作者：沈苗根一四二四所

随着LSI电路的发展,不仅对硅单晶材料质量提出较高的要求,而且对器件工艺中诱生的“二次”缺陷也愈来愈引起人们的重视.“二次”缺陷的产生,一方面与硅单晶材料中的原生缺陷有关,另外,还直接与硅片制备以至器件工艺余留下的机械损伤及... 详细信息

随着LSI电路的发展,不仅对硅单晶材料质量提出较高的要求,而且对器件工艺中诱生的“二次”缺陷也愈来愈引起人们的重视.“二次”缺陷的产生,一方面与硅单晶材料中的原生缺陷有关,另外,还直接与硅片制备以至器件工艺余留下的机械损伤及沾污有关.因此深入研究硅片制备工艺,以获得表面无损,质量完善的硅片衬底,已成为提高器件成品率的重要途经.从78年起,我们在E100系列（Mecl10K系列）电路基础上,进而研制了S;、S;等品种ecl亚毫微秒电路(S;电路门延迟为0.7～0.9ns,S;电路延迟为1.5ns,

关键词：衬底基片单晶材料光电材料表面质量亚毫微秒旋涡缺陷微缺陷氧化层错成品率硅片层错密度器件工艺缺陷密度抛光片去离子水离子交换水 ecl

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ecl随机存储器测试方法的探讨

电子测量技术 1981年第2期 13-20页

作者：孙祖希龚国兴中国科学院计算技术研究所中国科学院计算技术研究所助理研究员

为了保证ecl RAM组件上机后能可靠工作,需要对组件进行严格的测试挑选。通常半导体存储器的测试可分为三类:静态参数测试、动态参数测试、动态功能测试。但是动态参数与所选择的动态测试图案有关。根据我们的实验,乒乓与跳步写恢复图案... 详细信息

为了保证ecl RAM组件上机后能可靠工作,需要对组件进行严格的测试挑选。通常半导体存储器的测试可分为三类:静态参数测试、动态参数测试、动态功能测试。但是动态参数与所选择的动态测试图案有关。根据我们的实验,乒乓与跳步写恢复图案可测得最大的地址取数时间t;。分析了存储单元的写入原理之后,我们认为测试最小写入脉冲宽度t;,既要考虑正常写入周期写入控制波对地址变化的延迟t;较小的情况,又要考虑同一地址先为读出周期,再为写周期,将写入控制波对地址变化的延迟加长的情况。采用这种图案的乒乓和跳步写恢复图案可测得最大的twsA。动态功能测试还测试存储单元的抗打扰能力,在这方面,乒乓和跳步写恢复图案最严格、走步次之、求反更差。对组件还应进行工作范围的测试,讨论了影响工作范围的测试条件。并发现有个别组件在低频时电源电压工作范围的上限减小。使用时应剔除工作范围不合格的组件。

关键词：随机存储器地址控制波跳步图案求反随机存取存储器存储单元仪表组合单元组件测试 ecl

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ecl高速比较器

电子技术应用 1985年第4期 34-36+48页

作者：唐明道甘肃秦安国营871厂

本文介绍了国营天光电工厂生产的E1650/E1651和J685两种比较器,其性能分别与美国Motorola公司的MC1650/MC1651和AMD公司的AM685相同,管脚排列也一致,可互换使用.这两种组件都能工作在200MHz以上,转换速率快,是理想的高速模-数(A/D)比较... 详细信息

本文介绍了国营天光电工厂生产的E1650/E1651和J685两种比较器,其性能分别与美国Motorola公司的MC1650/MC1651和AMD公司的AM685相同,管脚排列也一致,可互换使用.这两种组件都能工作在200MHz以上,转换速率快,是理想的高速模-数(A/D)比较器.特别是J685增益高、分辨能力强,也是一个理想的放大、整形和接口电路.

关键词：比较器双模仪表 ecl 输人电压电压增益传输延迟时间低电平线性放大输入电压

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高密度展现了ecl设计的前景

计算机研究与发展 1980年第10期 1-8页

作者： William R.Blood 梁呤藻

在微处理机领域中,双极性大规模集成电路的发展采用了十分不同于金属一氧化物一半导体LSI的工艺技术。双极型电路的最大特点是速度。对于任何特定的微处理机应用来说,如果设计者对于总线的结构,字长和指令系统

关键词：地址寄存器 TTL 存储器电平转换器宏单元阵列存贮器计算机微程序控制器总线结构 ecl 逻辑块微指令微处理机

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关于开发ecl门阵列的设想

微电子学 1983年第4期 25-36页

作者：李范成四川省电子设备公司

到目前为止,我国半导体工业从工艺水平、集成度和整机系统的要求来看,不仅需要,而且也已可能研制、生产出逻辑电路的LSI电路芯片。而采用门阵列技术可以大为缩短研制周期、简化设计和生产,降低成本和提高成品率。灵活地适应各种逻辑设... 详细信息

到目前为止,我国半导体工业从工艺水平、集成度和整机系统的要求来看,不仅需要,而且也已可能研制、生产出逻辑电路的LSI电路芯片。而采用门阵列技术可以大为缩短研制周期、简化设计和生产,降低成本和提高成品率。灵活地适应各种逻辑设计要求,便于各种新系统的开发。集中力量开发出一种电路形式,一定集成度的门阵列,就可积累经验,顺利而进一步地开发其他电路形式及更高集成度的门阵列,扩展其优越性。

关键词：门阵列技术参数设计逻辑框图参考源门电路功耗元件数数字电路 ecl 输出电平

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ecl电路中的恒流偏置与参考电压

电子计算机动态 1975年第7期 59-68页

作者：秦志斌

引言随着大型、高速数字系统的发展,ecl 电路的应用也日趋广泛。为了适应各种系统的要求,人们设计了很多新型的 ecl 电路。在 ecl电路中恒流偏置与参考电压电路虽然不是电流开关电路中的主要部分,但是由于它决定电流开关电路的阂值电压... 详细信息

引言随着大型、高速数字系统的发展,ecl 电路的应用也日趋广泛。为了适应各种系统的要求,人们设计了很多新型的 ecl 电路。在 ecl电路中恒流偏置与参考电压电路虽然不是电流开关电路中的主要部分,但是由于它决定电流开关电路的阂值电压和噪声容限,所以也是一个不可忽视的部分。最近全补偿型 ecl 电路的出现,尤其显得此部分的重要。本文主要汇报有关 ecl 电路的恒流偏置与参考电压的调查材料。由于 ecl 电路趋于向高速低功耗集成电路方面发展,所以参考电压的数值也愈来愈低,在 EFL 电路中竞出现一1.1伏乃致-0.36伏的参考电压。这样一来,参

关键词：参考电压偏置方程式方程 ecl 电阻电阻抗恒流

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ecl电路可靠性研究

微电子学 1980年第6期 12-25+11页

作者：吴佑华焦舜华检验科

一、引言可靠性是产品的一个重要指标,是对产品保持其性能的衡量。随着科学技术的发展,电子系统的使用日益广泛,在很多重要场合起着关键作用。国民经济各部门、现代化的武器装备、现代化通讯以及航天所用的电子设备日趋复杂,所用电子... 详细信息

一、引言可靠性是产品的一个重要指标,是对产品保持其性能的衡量。随着科学技术的发展,电子系统的使用日益广泛,在很多重要场合起着关键作用。国民经济各部门、现代化的武器装备、现代化通讯以及航天所用的电子设备日趋复杂,所用电子元器件的数量愈来愈多,对电子设备及电子元器件的可靠性要求也愈来愈高。电子产品的可靠性已成为

关键词：加速寿命试验 ecl 失效率键合可靠性试验电路可靠性

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ecl 高速多相程控脉冲定时装置

电子测量技术 1980年第4期 1-7页

作者：黄维康陆时睛复旦大学

近年来,随着计算机的广泛应用,程序控制的设备愈来愈多。电子测量的自动化,对系统的定时部分也提出了可程控的要求。在集成电路自动测试系统中,就需要一个可程控的定时装置。本文所介绍的就是一个用于集成电路自动测试系统的定时装置,... 详细信息

近年来,随着计算机的广泛应用,程序控制的设备愈来愈多。电子测量的自动化,对系统的定时部分也提出了可程控的要求。在集成电路自动测试系统中,就需要一个可程控的定时装置。本文所介绍的就是一个用于集成电路自动测试系统的定时装置,它也可用于其他对脉冲的周期、延迟及宽度需要程序控制的场合。用于集成电路自动测试系统的程控定时装置有三个基本要求:(1)多相,这是因为很多半导体器件,特别是动态MOS器件需要多相周期相同而延迟及宽度不一的定时脉冲。

关键词：计数器比较器计数值自动测试系统记录仪仪表数字控制单元 ecl 程控时间基准多相

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ecl大规模集成逻辑电路综述

电子计算机动态 1979年第2期 14-23页

作者：沈亚城

Ⅰ.ecl电路与高速大型计算机自60年代末到70年代,国际上具有代表性的高速大型计算机的主机逻辑电路都采用ecl 电路(即射极耦合逻辑电路,常称电流开关电路),例如:IBM 360/195;IBM 370/168、370/3033;CDC—CYBER 76;AMDHAL470/V/6、V/7;IL... 详细信息

Ⅰ.ecl电路与高速大型计算机自60年代末到70年代,国际上具有代表性的高速大型计算机的主机逻辑电路都采用ecl 电路(即射极耦合逻辑电路,常称电流开关电路),例如:IBM 360/195;IBM 370/168、370/3033;CDC—CYBER 76;AMDHAL470/V/6、V/7;ILLIAC Ⅳ;ASC;STAR-100;STARAN;GRAY-1;BSP;PEPE;超高性能计算机;DIPSⅠ、DIPSⅡ;M-190、M-200;ACOS-77;MU 5;ICL-2980等。这

关键词：逻辑电路开关电路逻辑装置低功耗串联门电源电压 ecl