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X-ray Photoemission Spectroscopy Studies of the Semiconducting Molybdenum Purple Bronze Bi_(0.2)MoO_3

Journal of Materials Science & Technology 2006年第4期22卷 487-490页

作者： Rui XIONG Chang LUO Wufeng TANG Jing SHI Department of Physics Wuhan University Wuhan 430072 China International Center for Materials Physics Chinese Academy of Sciences Shenyang 110016 China

The electronic structure of the quasi-two-dimensional （2D） semiconducting molybdenum purple bronze Bio.2MoO3 was presented by X-ray photoemission spectroscopy. The valence band of Bio.2MoO3 is made up of Opπ nonbonding level, π and a bonding bands. The peak at 1.5 eV and the shoulder at 0.5 eV in the forbidden band may be formed from the non-bonding dxy orbitals of some Mo atoms. The O1s core-level spectrum demonstrates the presence of two inequivalent bonds of oxygen ions in Bio.2MoO3. Bi4f core-level spectrum shows two bonding characters of Bi atoms in bismuth molybdenum single crystal. Mo3d core-level spectrum confirms two kinds of valence states of Molybdenum （Mo^＋5 and Mo^＋6）. Ar^＋ ion irradiation induces more significant distortion of MoO6 octahedra.

关键词： Bi0.2MoO3 single crystal X-ray photoemission spectroscopy core-electron spectrum

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X-ray Photoelectron Spectroscopy Studies of Ti_(x)Al_(1-x)N Thin Films Prepared by RF Reactive Magnetron Sputtering

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Journal of Materials Science & Technology 2005年第4期21卷 541-544页

作者： Rui XIONG Jing SHI Department of Physics Wuhan University Wuhan 430072 China International Center for Materials Physics Chinese Academy of Sciences Shenyang 110016 China

TixAl1-xN films have been prepared by RF reactive magnetron sputtering. X-ray diffraction results showed that TixAl1-xN thin films in this study were hexagonal wurtzite structure with the Ti content up to 0.18. X-ray photoelectron spectrocopy studies provided that the Nls core-electron spectrum of TixAl1-xN thin film brodend with increasing Ti content, and the difference of the chemical shifts for Ti2p3/2 line between TiN and TixAl1-xN th77pj in film was 0.7 eV.

关键词： TixAl1-xN films X-ray photoelectron spectroscopy core-electron spectrum

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