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Advances in localization and Molecular Markers of Wheat Leaf Rust Resistance Genes

Agricultural Sciences in China 2004年第10期3卷 770-779页

作者： YANGWen-xiang LIUDa-qun DepartmentofPlantPathology CollegeofPlantProtectionHebeiAgriculturalUniversity~BiologicalControlCentreofPlantPathogensandPlantPestsofHebeiProvinceBaoding071001P.R.China

Genetic resistance is the most economical method of reducing yield losses caused by wheat leaf rust. To identify the leaf rust resistance genes in commonly used parental germplasm and released cultivars become very important for utilizing the genetic resistance to wheat leaf rust fully. Up to date, about 90 leaf rust resistance genes have been found, of which 51 genes have been located and mapped to special chromosomes, and 56 genes have been designated officially according to the standards set forth in the Catalogue of Gene Symbols for wheat. Twenty-four wheat leaf rust resistance genes have been developed for their molecular markers. It is very important to isolate, characterize, and map leaf rust resistance genes due to the resistance losses of the genes caused by the pathogen continuously.

关键词： Wheat leaf rust Resistance gene chromosomal localization Molecular marker

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