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  • 1 篇 期刊文献

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学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 电修调
  • 1 篇 trim
  • 1 篇 fuse
  • 1 篇 集成电路
  • 1 篇 烧铝
  • 1 篇 cp test

机构

  • 1 篇 南京微盟电子有限...

作者

  • 1 篇 朱刚俊
  • 1 篇 张洪俞

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=CP Test"
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芯片ATE测试cp电修调的优化分析
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引用
集成电路应用 2024年 第3期41卷 62-63页
作者： 朱刚俊 张洪俞 南京微盟电子有限公司 江苏210042
阐述一种芯片ATE测试之cp电修调的测试优化方法,该方法使测试效率明显提高,极大程度降低芯片的测试成本,对测试机台的硬件要求不高,可以适用于各种不同测试平台的cp测试。
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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