检索结果-南通市图书馆

压电与声光 2004年第1期26卷 72-75页

作者：傅平重庆港宇高科技开发有限公司重庆400060

对帧转移型ccd的结构进行分析,研究了造成垂直拖尾的原因,找到解决问题的方法。在摄像机系统中运用数字处理技术,实时地降低了垂直拖尾对图像的影响。

关键词： ccd图像传感器垂直拖尾现场可编程逻辑阵列高速集成电路硬件描述语言

ccd图像传感器对焊缝背面横向温度场的实时检测

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清华大学学报（自然科学版） 1990年第2期30卷 45-53页

作者：陈强潘际銮吴志强机械工程系

基于经典焊接热场计算方法和黑体热辐射理论，首次提出以ＣＣＤ图像传感器识别焊缝背面横向温度场的数学模型及其计算机处理方法。通过对实际焊接过程的温度检测和对比实验，证明了所作的理论分析和数学推导是正确的、经图像处理后计... 详细信息

基于经典焊接热场计算方法和黑体热辐射理论，首次提出以ＣＣＤ图像传感器识别焊缝背面横向温度场的数学模型及其计算机处理方法。通过对实际焊接过程的温度检测和对比实验，证明了所作的理论分析和数学推导是正确的、经图像处理后计算出来的结果具有一定的精确性，误差分析表明其精度还能进一步提高。由于这种温度场识别系统结构简单，运算迅速，可用以进行精确、高质量的焊接过程实时控制。

关键词：辐射图像识别 ccd图像传感器焊缝温度场实时检测

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ccd图像传感器划片工艺优化

半导体光电 2015年第1期36卷 85-87页

作者：谷顺虎王艳程顺昌陈于伟重庆光电技术研究所重庆400060

针对某型ccd图像传感器划片过程中产生的静电损伤、崩边等缺陷造成器件失效,通过优化划片工艺条件,避免了静电损伤,减少了崩边缺陷,封装的成品率由48%提高至96%。

关键词： ccd图像传感器划片崩边静电损伤优化

ccd图像传感器电极间漏电流自动化测试系统设计

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半导体光电 2020年第2期41卷 287-290页

作者：郭利周建勇何达何昌海尹俊唐遵烈袁世顺重庆光电技术研究所重庆400060

ccd图像传感器电极间漏电流是反映ccd器件可靠性的一个关键参数,在ccd图像传感器的生产过程中,对其电极间漏电流测试是一个重要的检测筛选环节。基于一种漏电流自动化测试方法,设计了一种ccd电极间漏电流自动化测试系统。该系统可根据... 详细信息

ccd图像传感器电极间漏电流是反映ccd器件可靠性的一个关键参数,在ccd图像传感器的生产过程中,对其电极间漏电流测试是一个重要的检测筛选环节。基于一种漏电流自动化测试方法,设计了一种ccd电极间漏电流自动化测试系统。该系统可根据不同种类ccd器件,自定义被测信号名称、测试通道地址和测试判据,通过计算机软件控制自动循环扫描,自动采集漏电电流数据,形成标准测试报表。该系统具有设置灵活、操作方便、自动化测试等优点,可有效提升ccd生产检查筛选过程中的测试效率和测试设备的通用性。

关键词： ccd图像传感器电极间漏电流自动化测试

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基于ccd图像传感器的压缩成像方法

激光与光电子学进展 2017年第11期54卷 158-165页

作者：张淑芳朱彬华李瑞天津大学电气自动化与信息工程学院天津300072

压缩感知理论将信号采样和压缩同时进行,且采样频率远低于奈奎斯特频率,为低分辨率采样高分辨率成像提供了可能。为此,提出一种基于ccd图像传感器的压缩成像方法,利用ccd图像传感器模拟像素值串行输出不可重复使用的特点,对图像进行单... 详细信息

压缩感知理论将信号采样和压缩同时进行,且采样频率远低于奈奎斯特频率,为低分辨率采样高分辨率成像提供了可能。为此,提出一种基于ccd图像传感器的压缩成像方法,利用ccd图像传感器模拟像素值串行输出不可重复使用的特点,对图像进行单次测量,构造半循环半随机测量矩阵对ccd图像传感器输出的模拟值进行压缩测量,基于增广拉格朗日法和交替方向法的最小全变分算法(TVAL3)算法解压缩重构图像。该成像方法测量矩阵的稀疏性较强,能较好地恢复原始图像,同时模拟/数字负担及量化编码的复杂度大大降低,成像系统结构简单,实用性强。仿真结果表明,所提成像算法重构的图像主客观质量较好。

关键词：成像系统压缩感知 ccd图像传感器

长脉冲激光对组成ccd图像传感器的MOS光敏单元的硬破坏机理研究

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物理学报 2011年第11期60卷 332-337页

作者：毕娟张喜和倪晓武长春理工大学理学院长春130022 南京理工大学理学院南京210094

以帧转移型面阵ccd图像传感器为例,采用有限元法研究了波长1.06μm,脉宽ms量级长脉冲Nd:YAG激光与组成ccd传感器的MOS光敏单元的作用过程及硬破坏机理.建立了长脉冲激光辐照MOS光敏单元的热力耦合模型,模拟了MOS光敏单元的温度分布和应... 详细信息

以帧转移型面阵ccd图像传感器为例,采用有限元法研究了波长1.06μm,脉宽ms量级长脉冲Nd:YAG激光与组成ccd传感器的MOS光敏单元的作用过程及硬破坏机理.建立了长脉冲激光辐照MOS光敏单元的热力耦合模型,模拟了MOS光敏单元的温度分布和应力分布.研究结果表明:在长脉冲激光作用下,由于S层表面径向压应力超过其抗压强度引起MOS光敏单元出现了OS层间分裂,进而受径向、环向和轴向压应力的共同作用下,在光敏单元还未熔融时,层间分裂就扩大至光敏单元的整个OS层间.OS层间完全分裂会使光敏单元发生硬破坏,并造成ccd传感器中激光照射区的单个或一列光敏单元的功能完全失效.文章的研究结果可为ccd图像传感器的激光损伤及防护提供必要的理论依据.

关键词：长脉冲激光 ccd图像传感器硬破坏机理层间分裂

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