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机构

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  • 1 篇 inst of metal re...
  • 1 篇 中国科学院金属研...

作者

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  • 1 篇 z.q. li
  • 1 篇 d.g. ren and x.s...
  • 1 篇 college of mater...
  • 1 篇 任大刚
  • 1 篇 x.s. fan and j. ...
  • 1 篇 d.g. ren w.z. ch...
  • 1 篇 刘治国

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检索条件"主题词=AP-FIM"
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STUDY OF THE EFFECT OF BORON CONTENT ON THE ORDERED EXTENT OF THE Ni_3Al INTERMETALLICS COMPOUND BY ap-fim
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Acta Metallurgica Sinica(English Letters) 2000年 第4期13卷 1001-1011页
作者: D.G. Ren Z.Q. Li X.S. Fan and J. T. Guo Laboratory of Atomic Imaging of Solids, Institute of Metal Research, The Chinese Academy of Sciences, Shenyang 110015, China Inst of Metal Research Chinese Acad of Sciences Shenyang China
By using ap-fim the varity of the ordered degree of Ni_3Al with L1_2 structure with B content was studied. The possibility of boron improving ductility was also discussed from bonding between Ni and Al atoms, and anti... 详细信息
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ap-fim STUDY ON THE MICROSTRUCTURES OF TiAlINTERMETALLIC COMPOUNDS FXBRICATED BY INGOTMETALLURGY AND CENTRIFUGAL SPRAY DEPOSITION
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Acta Metallurgica Sinica(English Letters) 2000年 第6期13卷 1165-1173页
作者: D.G. Ren, W.Z. Chen and X.S. Fan ( Laboratory of Atomic Imaging of Solids, Institute of Metal Research, The Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110015, China College of Materials Science and Engineering, Fuzhou University, Fuzhou 350002, China)
The microstructures of TiAl intermetallic compounds prepared by ingot metallurgy and centrifugal spray deposition (CSD) were compared by field ion microscopy and atom probe (ap-fim). The samples used have nearly stoi... 详细信息
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THE EXPERIMENTAL STUDIES OF NiO CLUSTER FORMATION INNi_3Al ALLOYS BY ap-fim
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Acta Metallurgica Sinica(English Letters) 2000年 第6期13卷 1159-1164页
作者: D.G. Ren and X.S. Fan (Laboratory of Atomic Imaging of Solids, Institute of Metal Research, The Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110015, China)
The purpose of the present work is to study the NiO cluster formation in Ni3Al alloys by field ion microscope and atom probe (ap-fim). A polycrystal Ni3Al (B-doped) was heat-treated in atmospheres, the surface adsorpt... 详细信息
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ap-fim研究磁性材料微结构
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电子显微学报 1988年 第4期 53-57页
作者: 任大刚 刘治国 中国科学院金属研究所 南京大学物理系 沈阳
场离子显微镜(fim)是一种具有高分辨高放大倍数且能直接观察到固体表面单个原子的技术,将fim与飞行时间质谱计配合构成原子探针——场离子显微镜(ap-F;M)可鉴别极微区域(几nm)的化学成份,因此是研究材料微结构的有力工具。本文用A... 详细信息
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