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集成电路测试系统高速数字通道校准装置架构设计

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舰船电子工程 2022年第2期42卷 161-164页

作者：胡勇黄俊杰姚俊杰中国船舶集团有限公司第七○九研究所武汉430205

数字通道测试速率的不断提升以及单块板卡的集成度越来越高是当今大规模集成电路(SOC)测试系统发展的趋势,由于测试系统高速数字通道校准的特殊性以及缺少对高速数字通道校准方法及技术规范的研究,当前高速数字通道普遍缺乏可靠的量值... 详细信息

数字通道测试速率的不断提升以及单块板卡的集成度越来越高是当今大规模集成电路(SOC)测试系统发展的趋势,由于测试系统高速数字通道校准的特殊性以及缺少对高速数字通道校准方法及技术规范的研究,当前高速数字通道普遍缺乏可靠的量值溯源途径。论文提出了一种集成电路测试系统高速数字通道校准装置架构设计方法,该方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。

关键词：集成电路测试系统高速校准

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集成电路测试系统程控直流电源校准技术研究

计测技术 2012年第3期32卷 50-54页

作者：吴丹武汉数字工程研究所湖北武汉430074

介绍了集成电路测试系统中程控直流电源的结构、工作原理,分析了影响程控直流电源准确校准的因素,提出采用开尔文连接校准程控直流电源的方法。根据该原理对ASL3000集成电路测试系统进行了校准实验,通过对测量结果的不确定度进行分析,... 详细信息

介绍了集成电路测试系统中程控直流电源的结构、工作原理,分析了影响程控直流电源准确校准的因素,提出采用开尔文连接校准程控直流电源的方法。根据该原理对ASL3000集成电路测试系统进行了校准实验,通过对测量结果的不确定度进行分析,证实了测量结果的准确性和可靠性。

关键词：集成电路测试系统程控直流电源校准开尔文连接测量不确定度

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集成电路测试系统时间参数测试能力比对

计量技术 2017年第7期 24-27页

作者：张继平于利红赵昭王酣工业和信息化部电子工业标准化研究院

本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对，对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方案的制定、比对结果的评价方法等关键内容进行了详细描述，为集成电路测试系统时间参数的量值溯源提供了... 详细信息

本文结合集成电路测试系统时间参数测试能力比对，对比对过程中所采用的标准和测试方法、被测件的制备及其稳定性考核、比对实施方案的制定、比对结果的评价方法等关键内容进行了详细描述，为集成电路测试系统时间参数的量值溯源提供了一种有效的方法。

关键词：集成电路测试系统时间参数被测件比对实施方案

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集成电路测试系统软件的设计及实现

电子测试 2010年第9期21卷 6-9,46页

作者：李旭刚电子科技大学自动化工程学院四川成都611731

本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建模的基础上讲述了集成电路软件的结构及设计方法。着重介绍了流程图测试程序转化为文本测试程序的方法以... 详细信息

本文主要展示了集成电路测试系统软件的基本功能及其核心部分的实现方法。先介绍了集成电路测试系统硬件的建模方法,然后在硬件建模的基础上讲述了集成电路软件的结构及设计方法。着重介绍了流程图测试程序转化为文本测试程序的方法以及对文本测试程序的编译方法。用户只需要根据测试流程编写流程图即可以实现测试程序的编写,实现对IC的测试,提高了开发效率。该软件系统具有和硬件系统低耦合性,当向集成电路测试系统添加删改硬件时,不需要修改太多的软件内容即可以正常工作,通用性较好。

关键词：集成电路测试系统流程图编程设计 visio二次开发

集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计

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计算机与数字工程 2015年第1期43卷 29-31,69页

作者：刘倩胡勇李轩冕武汉数字工程研究所武汉430205

在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在... 详细信息

在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围内,各信号之间的相对时间是否准确的关键时间参量,必须进行校准保证其溯源性。论文以V93000集成电路测试系统为例,介绍了集成电路测试系统总定时精度自动校准程序的设计方法。

关键词：集成电路测试系统总定时精度校准

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VXI数模混合信号集成电路测试系统

电子测量与仪器学报 2005年第2期19卷 52-57页

作者：冯建科张生文郭士瑞北京自动测试技术研究所

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEI... 详细信息

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。

关键词：集成电路测试系统混合信号信息产业发展数模混合信息产业部 VXI总线软硬件设计系统开放性研究开发设计思想产业化高密度多通道 ATE 低功耗标准化

德国SZ公司新一代M3000-IPC通用集成电路测试系统的最新发展

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中国集成电路 2003年第10期 75-75页

德国 SZ 公司的 M3000测试系统,无疑是非常成功的通用集成电路测试系统,它具有测试面广,性价比高等特点,深受广大中国用户的喜爱,并为中国的航空航天及微电子工业作出了很大的贡献。这要归功于其超前的开放式模块化设计思路,使其可以不... 详细信息

德国 SZ 公司的 M3000测试系统,无疑是非常成功的通用集成电路测试系统,它具有测试面广,性价比高等特点,深受广大中国用户的喜爱,并为中国的航空航天及微电子工业作出了很大的贡献。这要归功于其超前的开放式模块化设计思路,使其可以不断的更新和发展。在2000年5月,SZ 公司向中国

关键词：集成电路测试系统新一代 SZ M3000-IPC 最新发展德国

我国科技人员自主开发成功大型集成电路测试系统

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科技经济市场 1997年第5期 26-27页

作者：利

我国科技人员经过数年联合攻关,自主开发成功我国首台大型集成电路测试系统。不久前,这一系统通过了国家技术鉴定。由北京自动测试技术研究所、国营767厂、中科院计算所联合开发的"BC3190大型集成电路测试系统"在国内首次采用了90年代... 详细信息

我国科技人员经过数年联合攻关,自主开发成功我国首台大型集成电路测试系统。不久前,这一系统通过了国家技术鉴定。由北京自动测试技术研究所、国营767厂、中科院计算所联合开发的"BC3190大型集成电路测试系统"在国内首次采用了90年代国际先进的每测试通道定时——事件驱动结构;在周期、通道、测试台、软件等子系统的研制和开发中,形成了我国独立自主版权,取得了每测试通道定时-

关键词：集成电路测试系统测试通道

LSTTL、DAC、ADC 在微机辅助数字集成电路测试系统中的应用

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集成电路应用 1985年第4期 1-5页

作者：徐凌

LSTTL 集成电路是继 TTL 之后又一新系列产品,它的功能及直流参数指标都大大优于一般 TTL,尤其在速度、功耗、温度特性等方面又有新的发展,因此在目前 IC 市场上占有重要地位,随着应用的深化,将不断开拓新的领域。DAC(数模变换器),ADC(... 详细信息

LSTTL 集成电路是继 TTL 之后又一新系列产品,它的功能及直流参数指标都大大优于一般 TTL,尤其在速度、功耗、温度特性等方面又有新的发展,因此在目前 IC 市场上占有重要地位,随着应用的深化,将不断开拓新的领域。DAC(数模变换器),ADC(模数变换器)集成电路由于其转换速度快,精度高,一致性好,使用方便,已迅速取代了用分立元件组成的数模、模数变换器,广泛应用于自动化测试

关键词：总线接口输入输出 ADC 存贮器存储器 LSTTL DAC 微机微型计算机集成电路测试系统地址线打印机接口数字量