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文献类型

  • 2 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 2 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 2 篇 电子科学与技术（可...
    • 1 篇 材料科学与工程（可...
  • 1 篇 理学
    • 1 篇 物理学

主题

  • 2 篇 闭锁路径
  • 2 篇 闭锁窗口
  • 1 篇 cmos
  • 1 篇 寄生结构
  • 1 篇 “三径”闭锁模型
  • 1 篇 核电子学
  • 1 篇 集成电路
  • 1 篇 cmos器件
  • 1 篇 计算机模拟

机构

  • 2 篇 北京邮电大学
  • 2 篇 中国工程物理研究...

作者

  • 2 篇 杨怀民
  • 2 篇 许献国
  • 1 篇 胡健栋
  • 1 篇 胡建栋

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=闭锁窗口"
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CMOS集成电路的闭锁特性和闭锁窗口分析
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核电子学与探测技术 2004年 第6期24卷 674-678页
作者： 许献国 杨怀民 胡健栋 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川绵阳621900 北京邮电大学 北京100876
由于布局结构的复杂性,CMOS集成电路可能存在多个潜在的寄生闭锁路径。各个闭锁路径因触发剂量率和闭锁维持电压、闭锁维持电流不同而相互影响,可能产生一个或多个闭锁窗口。在详细分析CMOS集成电路闭锁特性的基础上,建立了"三径"闭锁模... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
对辐射感应闭锁窗口现象的解释
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引用
信息与电子工程 2004年 第4期2卷 314-317页
作者： 许献国 杨怀民 胡建栋 中国工程物理研究院电子工程研究所 四川绵阳621900 北京邮电大学电信学院 北京100087
中、大规模CMOS器件受到瞬态辐射时,出现了闭锁单窗口、多窗口现象。为了获得闭锁窗口的出现原因,借助对窗口现象的有关参考文献的研究,利用计算机电路模拟软件,分析了CMOS器件多个闭锁路径之间的相互作用。在此基础上,提出了解释窗口... 详细信息
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