检索结果-南通市图书馆

电子测量技术 2005年第2期28卷 82-83页

作者：刘震吴裕功天津大学

文中重点分析SGF闪速存储器的单元结构,以及擦除、编程和读取等操作;并结合其它非易失性存储器对其性能加以说明。

关键词：闪速存储器非易失性存储器单元结构 SGF

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

闪速存储器中应力诱生漏电流的产生机理

物理学报 2005年第12期54卷 5867-5871页

作者：刘红侠郑雪峰郝跃西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室西安710071

通过实验研究了闪速存储器存储单元中应力诱生漏电流(SILC)的产生机理.研究结果表明,在低电场应力下,其可靠性问题主要是由载流子在氧化层里充放电引起,而在高电场下,陷阱和正电荷辅助的隧穿效应导致浮栅电荷变化是引起闪速存储器失效... 详细信息

通过实验研究了闪速存储器存储单元中应力诱生漏电流(SILC)的产生机理.研究结果表明,在低电场应力下,其可靠性问题主要是由载流子在氧化层里充放电引起,而在高电场下,陷阱和正电荷辅助的隧穿效应导致浮栅电荷变化是引起闪速存储器失效的主要原因.分别计算了高场应力和低场应力两种情况下SILC中的稳态电流和瞬态电流的大小.

关键词：闪速存储器应力诱生漏电流电容耦合效应可靠性

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

热电应力下闪速存储器耐擦写次数预测方法

半导体技术 2022年第3期47卷 243-248页

作者：刘江城岳阳黄姣英高成北京航空航天大学可靠性与系统工程学院北京100191 北京遥感设备研究所北京100854

针对闪速存储器的擦写测试与失效分析的需要,探究了基于阿伦尼斯模型的加速试验方法用于闪速存储器的可行性,提出了一种热电应力下闪速存储器耐擦写次数的预测方法。利用Silvaco TCAD仿真软件建立闪速存储器的存储单元模型,探究了阈值... 详细信息

针对闪速存储器的擦写测试与失效分析的需要,探究了基于阿伦尼斯模型的加速试验方法用于闪速存储器的可行性,提出了一种热电应力下闪速存储器耐擦写次数的预测方法。利用Silvaco TCAD仿真软件建立闪速存储器的存储单元模型,探究了阈值电压在热电应力下的退化趋势以验证该方法的可行性。基于优化后的March算法对实际闪速存储器进行了热电应力下的耐擦写测试,并通过加速试验方法和Matlab软件对试验数据进行处理,验证了该方法的适用性。该方法可在热电应力耦合的复杂环境下动态考核闪速存储器的擦写性能,预测闪速存储器在常温下的耐擦写次数,为闪速存储器擦写性能评价提供依据。

关键词：闪速存储器阿伦尼斯模型耐擦写次数热电应力阈值电压

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

闪速存储器中的热载流子可靠性研究

西安电子科技大学学报 2004年第6期31卷 821-824页

作者：郑雪峰郝跃刘红侠李培咸刘道广韩晓亮西安电子科技大学微电子研究所陕西西安710071

提出了一种测量闪速存储器存储单元浮栅电压耦合率的方法.研究了采用负栅源边擦除的存储单元出现的退化现象,认为在擦除过程中源极附近的空穴注入产生界面态和氧化层陷阱,由该界面态和氧化层陷阱形成的应力导致漏电流是引起这种器件退... 详细信息

提出了一种测量闪速存储器存储单元浮栅电压耦合率的方法.研究了采用负栅源边擦除的存储单元出现的退化现象,认为在擦除过程中源极附近的空穴注入产生界面态和氧化层陷阱,由该界面态和氧化层陷阱形成的应力导致漏电流是引起这种器件退化的最主要的原因.在此基础上描述了应力导致的漏电流退化的3种可能的导电机制,并且分别测量出应力导致的漏电流中瞬态和稳态电流的大小.研究表明,在读操作应力下,可靠性问题主要是由电子通过氧化层隧穿引起的.

关键词：闪速存储器耦合率应力导致的漏电流

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

闪速存储器的单管多位技术

微电子学 2004年第3期34卷 241-245页

作者：李多力欧文中国科学院微电子中心北京100029

　为了在现有条件下进一步降低闪速存储器的单位成本,已开发了各种单管多位技术。文章着重介绍了基于浮栅结构的MLC技术和基于SONOS的单管多位技术。

关键词：闪速存储器单管多位技术多级单元 SONOS

闪速存储器AT29C040与单片机的接口设计

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体技术 2003年第5期28卷 75-78页

作者：张晶曾宪云广东工业大学自动化学院广东广州510090

介绍了Atmel公司的新一代大容量快闪存储器AT29C040的使用方法,并以笔者开发的某测试仪器为例,给出了实际应用的硬件电路及软件设计。

关键词：闪速存储器 AT29C040 单片机接口设计 Atmel公司软件数据保护硬件设计软件设计

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

闪速存储器在嵌入式系统中的应用研究

机械与电子 2006年第6期24卷 72-74页

作者：吴昊刘旭东李廷军宋里宏海军航空工程学院山东烟台264001

介绍了闪速存储器K9F1208UOM芯片的结构和功能;设计了嵌入式系统的数据存储部分,研究了K9F1208UOM的基本工作原理和接口技术,给出了硬件接口及软件编程实现。

关键词：闪速存储器 K9F1208UOM 嵌入式系统 NAND Flash

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

基于千兆以太网接口的高速固态存储器设计

基于千兆以太网接口的高速固态存储器设计

作者：张诚西安电子科技大学

学位级别：硕士

在现代实时信号处理领域,高速数据采集已经成为信号处理系统中不可或缺的部分。而在雷达、通信、航空航天等领域,系统对数据存储设备的要求越来越高。高速数据采集系统要求存储设备容量大、存储速率高、稳定性好、能够适应复杂的工作环... 详细信息

在现代实时信号处理领域,高速数据采集已经成为信号处理系统中不可或缺的部分。而在雷达、通信、航空航天等领域,系统对数据存储设备的要求越来越高。高速数据采集系统要求存储设备容量大、存储速率高、稳定性好、能够适应复杂的工作环境。本文以FPGA为控制核心、以FLASH为存储介质设计了一款高速大容量固态存储器。该固态存储器采用串并转换和流水线处理的方式,实现了数据的高速存储。系统采用千兆以太网接口作为数据输出接口,解决了存储器与普通计算机互连的问题。论文首先介绍了课题研究的意义,并进行了需求分析;其次详细论述了FLASH存储阵列和千兆以太网接口的设计;最后讲述了应用程序的设计方法,并对测试结果进行了分析。系统达到了设计要求,并为下一步工作打下了良好的基础。

关键词：数据采集固态存储闪速存储器千兆以太网