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    • 1 篇 航空宇航科学与技...
    • 1 篇 软件工程

主题

  • 3 篇 逻辑屏蔽
  • 2 篇 软错误
  • 1 篇 可靠度
  • 1 篇 软错误率(ser)
  • 1 篇 概率统计模型
  • 1 篇 软错误率
  • 1 篇 传播
  • 1 篇 单粒子瞬态
  • 1 篇 扇出重汇聚
  • 1 篇 重离子实验
  • 1 篇 失效概率
  • 1 篇 伯努利分布

机构

  • 1 篇 国防科学技术大学
  • 1 篇 长沙理工大学
  • 1 篇 湖南大学
  • 1 篇 杭州电子科技大学
  • 1 篇 合肥工业大学

作者

  • 1 篇 许晓琳
  • 1 篇 刘铁桥
  • 1 篇 蔡烁
  • 1 篇 邝继顺
  • 1 篇 凌纯清
  • 1 篇 梁华国
  • 1 篇 袁德冉
  • 1 篇 刘思恺
  • 1 篇 闫爱斌
  • 1 篇 尤志强

语言

  • 3 篇 中文
检索条件"主题词=逻辑屏蔽"
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基于伯努利分布的逻辑电路可靠度计算方法
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电子学报 2015年 第11期43卷 2292-2297页
作者： 蔡烁 邝继顺 刘铁桥 凌纯清 尤志强 湖南大学信息科学与工程学院 湖南长沙410082 长沙理工大学计算机与通信工程学院 湖南长沙410114 杭州电子科技大学管理学院 浙江杭州310018
在深亚微米及纳米级集成电路设计过程中,电路的可靠性评估是非常重要的一个环节.本文提出了一种利用概率统计模型计算逻辑电路可靠度的方法,将电路中的每个逻辑门是否正常输出看作一次随机事件,则发生故障的逻辑门数为某个特定值的概率... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
考虑扇出重汇聚效应的组合电路软错误率评估
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合肥工业大学学报（自然科学版） 2016年 第10期39卷 1341-1346页
作者： 闫爱斌 梁华国 许晓琳 袁德冉 合肥工业大学计算机与信息学院 安徽合肥230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 安徽合肥230009
为了准确评估集成电路的软错误率(soft error rate,SER),文章提出一种新颖的电路SER评估方法。通过门级仿真获得逻辑门输出信号,将产生瞬态故障的逻辑门进行故障注入,然后使用考虑扇出重汇聚的敏化路径逼近搜索算法查找不同输入向量下... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
单粒子软错误在电路中的传播过程研究
单粒子软错误在电路中的传播过程研究
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作者： 刘思恺 国防科学技术大学
学位级别：硕士
空间辐射环境中的高能粒子会使航天器中的电子器件发生单粒子效应,严重影响航天器在轨运行的可靠性,因此针对单粒子效应的研究是电路可靠性领域的主要研究方向之一,随着电路集成度不断增大,单粒子效应导致的软错误逐渐成为影响航天器中... 详细信息
来源： 同方学位论文库 同方学位论文库 评论
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