检索结果-南通市图书馆

光谱实验室 1991年第1期8卷 78-80页

作者：景桂兰赵维娟张春堂大连市产品质量监督检验所

本文采用载体分馏法,以直流电弧作激发光源,在中型摄谱仪上,样品可不经分离富集,一次摄谱同时测定高纯钨中十七种杂质元素。测定下限达0.71-11ppm各元素的相对标准偏差为1-23%。一、实验条件的选择1.载体钨属多谱线元素,测定钨中的杂质... 详细信息

本文采用载体分馏法,以直流电弧作激发光源,在中型摄谱仪上,样品可不经分离富集,一次摄谱同时测定高纯钨中十七种杂质元素。测定下限达0.71-11ppm各元素的相对标准偏差为1-23%。一、实验条件的选择1.载体钨属多谱线元素,测定钨中的杂质元素,必须有效地利用载体及缓冲剂的作用,以分馏杂质,抑制基体蒸发,消除钨线及强背景的干扰,提高杂质元素的测定灵敏度。我们分别采用Ga_2O_3、Na_2CO_3、Li_2CO_3、SrCO_***等载体进行了试验。结果表明,Ga_2O_3、Na_2CO_3和硫磺的混合物能造成被测杂质的有利蒸发。同时,钨虽是难熔金属,有很高的沸点,但氧化钨在300℃以上即有升华现象。因此,在分析WO_3中的杂质时。

关键词：高纯钨杂质元素测定载体分馏法光谱分析

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